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喷墨打印液晶配向膜厚度的TOF-SIMS深度分析方法
材料物理 | 更新时间：2026-10-16

    • 喷墨打印液晶配向膜厚度的TOF-SIMS深度分析方法

    • Thickness characterization of inkjet-printed liquid crystal alignment films using TOF-SIMS depth profiling

    • 液晶与显示   2026年41卷第9期 页码：1213-1222

    • DOI：10.3724/CJLCD.2026-0131    

      中图分类号： O436
    • CSTR：32172.14.CJLCD.2026-0131    

    • 收稿：2026-07-15，

      修回：2026-08-29，

      纸质出版：2026-09-05

    移动端阅览

  • 刘小青, 陈盼, 李林玲, 等. 喷墨打印液晶配向膜厚度的TOF-SIMS深度分析方法[J]. 液晶与显示, 2026,41(9):1213-1222. DOI： 10.3724/CJLCD.2026-0131. CSTR： 32172.14.CJLCD.2026-0131.

    LIU Xiaoqing, CHEN Pan, LI Linling, et al. Thickness characterization of inkjet-printed liquid crystal alignment films using TOF-SIMS depth profiling[J]. Chinese Journal of Liquid Crystals and Displays, 2026, 41(9): 1213-1222. DOI： 10.3724/CJLCD.2026-0131. CSTR： 32172.14.CJLCD.2026-0131.

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相关作者

陈盼
李林玲
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王丹
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宋勇志
袁剑峰
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相关机构

北京京东方显示技术有限公司
维业达科技（江苏）有限公司
苏州大学 江苏省先进光学制造技术重点实验室， 教育部现代光学技术重点实验室
苏州大学 光电科学与工程学院 苏州纳米科学技术协同创新中心
南通大学 物理科学与技术学院
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