液晶面板晕开缺陷的电子限度样本设计与应用

索金亮; 朱忠发; 王彬; 樊成; 张俊; 黄助兵

doi:10.37188/CJLCD.2022-0360

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液晶面板晕开缺陷的电子限度样本设计与应用

器件物理及器件制备 | 更新时间：2023-04-10

- 液晶面板晕开缺陷的电子限度样本设计与应用
- Design and application of LCD electronic limit sample for Particle Gap
- 液晶与显示 2023年38卷第4期页码：479-487
- 作者机构：
  
  合肥京东方显示技术有限公司，安徽合肥 230012
- 作者简介：
  
  [ "索金亮（1991—），男，安徽合肥人，硕士，高级工程师，2017年于北京科技大学获得硕士学位，主要从事液晶显示面板信号设计与缺陷检测工作。E-mail：suojinliang@boe.com.cn" ]
- 基金信息：
- DOI：10.37188/CJLCD.2022-0360
  中图分类号： TP391.41;TN141.9
- 收稿日期：2022-10-28，
  
  修回日期：2022-12-16，
  
  纸质出版日期：2023-04-05
- 稿件说明：
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索金亮, 朱忠发, 王彬, 等. 液晶面板晕开缺陷的电子限度样本设计与应用[J]. 液晶与显示, 2023,38(4):479-487.

SUO Jin-liang, ZHU Zhong-fa, WANG Bin, et al. Design and application of LCD electronic limit sample for Particle Gap[J]. Chinese journal of liquid crystals and displays, 2023, 38(4): 479-487.
索金亮, 朱忠发, 王彬, 等. 液晶面板晕开缺陷的电子限度样本设计与应用[J]. 液晶与显示, 2023,38(4):479-487. DOI： 10.37188/CJLCD.2022-0360.

SUO Jin-liang, ZHU Zhong-fa, WANG Bin, et al. Design and application of LCD electronic limit sample for Particle Gap[J]. Chinese journal of liquid crystals and displays, 2023, 38(4): 479-487. DOI： 10.37188/CJLCD.2022-0360.

摘要

晕开缺陷（Particle Gap）是液晶面板常见缺陷之一，在工业生产中需要准确评价缺陷的严重等级。传统评价方法存在准确率低、误差大的问题。本文基于Particle Gap缺陷的形态与颜色特征，利用Photo Shop软件设计了Particle Gap电子限度样本，提高了缺陷等级评价的准确率。首先根据形态将缺陷分为4类，通过色彩分析仪分析发现圆形有核和圆形无核两类缺陷的颜色呈各向同性，从中心向边缘分为均匀渐变和非均匀渐变两类；然后建立了Particle Gap电子限度样本模型，经过对比实验找出了不同等级之间精准的电子限度样本；最后分析得出Particle Gap色域范围为色相

∈［30°，45°］，饱和度

∈［2%，56%］，明度

∈［15%，66%］。随着缺陷由轻变重，色相总体呈减小趋势，饱和度逐渐增大，明度先升高后降低，为制作与修订电子限度样本提供了参考。该限度样本应用于H公司面板检测工序后，Particle Gap等级准确率提高7.1%以上，因错检造成的产品和材料损失显著降低，在缺陷检测领域具有重大应用价值。

Abstract

Particle Gap is a common defect in LCD panel. It is crucial to evaluate the severity of defect accurately. The traditional methods have poor accuracy and large error. In this paper， the electronic limit sample is designed by using the Photo Shop software based on the shape and color of Particle Gap defect， which greatly improves the accuracy of defect detection. Firstly， Particle Gap defect is divided into four types， and the color of circular defect is isotropic and varied uniformly or non-uniformly from center to edge. Then the electronic limit model is established. The optimal electronic limit samples are found through comparative experiments. Finally， the HSB color gamut of Particle Gap is determined ，

∈［30°， 45°］，

∈［2%， 56%］，

∈［15%， 66%］. As the defect varies from light to heavy， the hue tends to decrease， the saturation gradually increases， and the brightness first increases and then decreases， which provides a reference for making and revising the electronic limit sample. After the application of the electronic limit sample in the panel testing process of H Company， the accuracy of defect detection is increased by more than 7.1%， which brings significant improvement in reducing loss of product and materials. The electronic limit sample has great application value in the field of defect detection.

关键词

Keywords

references

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