يُعتبر عيب الفجوة الجسيمية (Particle Gap) واحدًا من العيوب الشائعة في لوحات الكريستال السائل، ويتطلب التقييم الدقيق لشدة العيب في الإنتاج الصناعي. توجد مشاكل في الطرق التقليدية للتقييم تتمثل في انخفاض الدقة ووجود أخطاء كبيرة. استنادًا إلى خصائص الشكل واللون لعيب الفجوة الجسيمية، تم تصميم عينات إلكترونية لحدود Particle Gap باستخدام برنامج Photo Shop، مما عزز دقة تقييم درجات العيوب. أولاً، تم تصنيف العيوب إلى 4 أنواع بناءً على الشكل، وأظهر التحليل باستخدام محلل الألوان أن العيوب الدائرية ذات النواة والدائرية عديمة النواة ذات ألوان متجانسة الاتجاه، وتنقسم من المركز إلى الحافة إلى نوعين: تدرج متساوي وتدرج غير متساوي؛ ثم تم إنشاء نموذج عينة إلكترونية لحدود Particle Gap، ومن خلال تجارب مقارنة تم العثور على عينات حدود إلكترونية دقيقة بين الدرجات المختلفة؛ وأخيرًا تم تحليل أن نطاق اللون لعيب Particle Gap هو التدرج اللوني H∈［30°، 45°］، التشبع S∈［2%، 56%］، والسطوع B∈［15%، 66%］. مع ازدياد شدة العيب، يظهر التدرج اللوني اتجاهًا تنازليًا، بينما يزيد التشبع تدريجيًا، ويزداد السطوع ثم ينخفض، مما يوفر مرجعًا لإنتاج ومراجعة عينات الحدود الإلكترونية. عند تطبيق هذه العينات في عملية فحص لوحات شركة H، زادت دقة تصنيف عيوب Particle Gap بأكثر من 7.1٪، وتم تقليل الخسائر في المنتجات والمواد الناتجة عن الفحوصات الخاطئة بشكل ملحوظ، مما يجعل لها قيمة تطبيقية كبيرة في مجال كشف العيوب.

عيب Particle Gap;عينات الحدود;قيم ألوان HSB;دقة الفحص