Le défaut de Gap particulaire (Particle Gap) est l'un des défauts courants des panneaux à cristaux liquides. Dans la production industrielle, il est nécessaire d'évaluer avec précision le niveau de gravité du défaut. Les méthodes traditionnelles présentent des problèmes de faible précision et de grandes erreurs. Cet article, basé sur les caractéristiques morphologiques et chromatiques du défaut Particle Gap, utilise le logiciel Photo Shop pour concevoir des échantillons électroniques de limite Particle Gap, améliorant ainsi la précision de l’évaluation du niveau de défaut. Tout d’abord, les défauts ont été classés en quatre catégories selon la forme; l'analyse chromatique a montré que les défauts ronds avec noyau et sans noyau présentent une couleur isotrope, subdivisée du centre au bord en dégradé uniforme et dégradé non uniforme; ensuite, un modèle d’échantillon électronique de limite Particle Gap a été établi, et des échantillons de limites électroniques précis entre différents niveaux ont été identifiés par des expériences comparatives; enfin, il a été analysé que la gamme de couleurs du Particle Gap est avec une teinte H∈［30°, 45°］, une saturation S∈［2%, 56%］, et une luminosité B∈［15%, 66%］. Avec l’aggravation du défaut, la teinte diminue globalement, la saturation augmente progressivement, la luminosité augmente d’abord puis diminue, fournissant une référence pour la fabrication et la révision des échantillons de limite électronique. Après l’application de cet échantillon limite dans le processus d’inspection des panneaux de la société H, la précision du classement Particle Gap a augmenté de plus de 7,1%, et les pertes de produits et de matériaux dues aux erreurs de détection ont été significativement réduites, ce qui a une grande valeur appliquée dans le domaine de la détection de défauts.

Défaut Particle Gap; échantillons de limite; valeurs de couleur HSB; précision de détection