Diseño y aplicación de muestras electrónicas límite para el defecto Particle Gap en paneles de cristal líquido

SUO Jin-liang ,  

ZHU Zhong-fa ,  

WANG Bin ,  

FAN Cheng ,  

ZHANG Jun ,  

HUANG Zhu-bing ,  

摘要

El defecto de brecha de partículas (Particle Gap) es uno de los defectos comunes en los paneles de cristal líquido, y en la producción industrial es necesario evaluar con precisión el nivel de gravedad del defecto. Los métodos tradicionales presentan problemas de baja precisión y gran margen de error. En este artículo, basándose en las características morfológicas y de color del defecto Particle Gap, se utilizaron el software Photo Shop para diseñar muestras electrónicas límite de Particle Gap, mejorando la precisión en la evaluación del grado del defecto. Primero, se clasificaron los defectos en 4 tipos según la forma; el análisis cromático reveló que los defectos circulares con núcleo y sin núcleo presentan colores isotrópicos, subdivididos desde el centro hacia el borde en variaciones uniformes y no uniformes; luego se creó un modelo de muestra electrónica límite para Particle Gap y, mediante experimentos comparativos, se identificaron muestras límites electrónicas precisas para diferentes niveles; finalmente, se analizó que el rango cromático de Particle Gap es tono H∈[30°, 45°], saturación S∈[2%, 56%] y brillo B∈[15%, 66%]. A medida que el defecto empeora, el tono generalmente disminuye, la saturación aumenta gradualmente, y el brillo primero aumenta para luego disminuir, proporcionando una referencia para la fabricación y revisión de muestras límite electrónicas. Al aplicar esta muestra límite en el proceso de inspección de paneles de la empresa H, la precisión en la clasificación de Particle Gap mejoró en más del 7.1%, y las pérdidas de productos y materiales por inspecciones erróneas se redujeron significativamente, teniendo un gran valor aplicado en el campo de la detección de defectos.

关键词

Defecto Particle Gap; muestras límite; valores de color HSB; precisión de detección

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