Design and application of LCD electronic limit sample for Particle Gap

SUO Jin-liang; ZHU Zhong-fa; WANG Bin; FAN Cheng; ZHANG Jun; HUANG Zhu-bing

doi:10.37188/CJLCD.2022-0360

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Design and application of LCD electronic limit sample for Particle Gap

Device Physics and Device Preparation | 更新时间：2023-04-10

- Design and application of LCD electronic limit sample for Particle Gap
- Chinese Journal of Liquid Crystals and Displays Vol. 38, Issue 4, Pages: 479-487(2023)
- 作者机构：
  
  合肥京东方显示技术有限公司，安徽合肥 230012
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：10.37188/CJLCD.2022-0360
  CLC： TP391.41;TN141.9
- Received：28 October 2022，
  
  Revised：16 December 2022，
  
  Published：05 April 2023
- 稿件说明：
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SUO Jin-liang, ZHU Zhong-fa, WANG Bin, et al. Design and application of LCD electronic limit sample for Particle Gap[J]. Chinese journal of liquid crystals and displays, 2023, 38(4): 479-487.
DOI：

SUO Jin-liang, ZHU Zhong-fa, WANG Bin, et al. Design and application of LCD electronic limit sample for Particle Gap[J]. Chinese journal of liquid crystals and displays, 2023, 38(4): 479-487. DOI： 10.37188/CJLCD.2022-0360.

摘要

晕开缺陷（Particle Gap）是液晶面板常见缺陷之一，在工业生产中需要准确评价缺陷的严重等级。传统评价方法存在准确率低、误差大的问题。本文基于Particle Gap缺陷的形态与颜色特征，利用Photo Shop软件设计了Particle Gap电子限度样本，提高了缺陷等级评价的准确率。首先根据形态将缺陷分为4类，通过色彩分析仪分析发现圆形有核和圆形无核两类缺陷的颜色呈各向同性，从中心向边缘分为均匀渐变和非均匀渐变两类；然后建立了Particle Gap电子限度样本模型，经过对比实验找出了不同等级之间精准的电子限度样本；最后分析得出Particle Gap色域范围为色相

∈［30°，45°］，饱和度

∈［2%，56%］，明度

∈［15%，66%］。随着缺陷由轻变重，色相总体呈减小趋势，饱和度逐渐增大，明度先升高后降低，为制作与修订电子限度样本提供了参考。该限度样本应用于H公司面板检测工序后，Particle Gap等级准确率提高7.1%以上，因错检造成的产品和材料损失显著降低，在缺陷检测领域具有重大应用价值。

Abstract

Particle Gap is a common defect in LCD panel. It is crucial to evaluate the severity of defect accurately. The traditional methods have poor accuracy and large error. In this paper， the electronic limit sample is designed by using the Photo Shop software based on the shape and color of Particle Gap defect， which greatly improves the accuracy of defect detection. Firstly， Particle Gap defect is divided into four types， and the color of circular defect is isotropic and varied uniformly or non-uniformly from center to edge. Then the electronic limit model is established. The optimal electronic limit samples are found through comparative experiments. Finally， the HSB color gamut of Particle Gap is determined ，

∈［30°， 45°］，

∈［2%， 56%］，

∈［15%， 66%］. As the defect varies from light to heavy， the hue tends to decrease， the saturation gradually increases， and the brightness first increases and then decreases， which provides a reference for making and revising the electronic limit sample. After the application of the electronic limit sample in the panel testing process of H Company， the accuracy of defect detection is increased by more than 7.1%， which brings significant improvement in reducing loss of product and materials. The electronic limit sample has great application value in the field of defect detection.

关键词

Keywords

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高欢，陈文智，姚晔，等 . TFT-LCD改善Particle Gap的研究［J］. 液晶与显示， 2018 ， 33 （ 2 ）： 129 - 137 ． doi: 10.3788/yjyxs20183302.0129 http://dx.doi.org/10.3788/yjyxs20183302.0129

GAO H ， CHEN W Z ， YAO Y ， et al . Prevention of TFT-LCD’s particle gap ［J］. Chinese Journal of Liquid Crystals and Displays ， 2018 ， 33 （ 2 ）： 129 - 137 . （in Chinese） . doi: 10.3788/yjyxs20183302.0129 http://dx.doi.org/10.3788/yjyxs20183302.0129

黄雅纹，陈再良 . TFT LCD常见点缺陷的检测与修复［J］. 现代电子技术， 2012 ， 35 （ 23 ）： 189 - 191 ． doi: 10.3969/j.issn.1004-373X.2012.23.057 http://dx.doi.org/10.3969/j.issn.1004-373X.2012.23.057

HUANG Y W ， CHEN Z L . Detection and repair of point defects in TFT LCD ［J］. Modern Electronics Technique ， 2012 ， 35 （ 23 ）： 189 - 191 . （in Chinese） . doi: 10.3969/j.issn.1004-373X.2012.23.057 http://dx.doi.org/10.3969/j.issn.1004-373X.2012.23.057

简川霞 . TFT-LCD表面缺陷检测方法综述［J］. 电视技术， 2015 ， 39 （ 9 ）： 146 - 152 ．

JIAN C X . Review of TFT-LCD surface defect detection methods ［J］. Video Engineering ， 2015 ， 39 （ 9 ）： 146 - 152 . （in Chinese）

王新新，徐江伟，邹伟金，等 . TFT-LCD缺陷检测系统的研究［J］. 电子测量与仪器学报， 2014 ， 28 （ 3 ）： 278 - 284 ．

WANG X X ， XU J W ， ZOU W J ， et al . Research on detection system for TFT-LCD defects ［J］. Journal of Electronic Measurement and Instrumentation ， 2014 ， 28 （ 3 ）： 278 - 284 . （in Chinese）

吴昕，王海燕，李剑 . 高清液晶电视显示器图像画质评测方法探究［J］. 电视技术， 2009 ， 33 （ 8 ）： 109 - 112 ． doi: 10.3969/j.issn.1002-8692.2009.08.049 http://dx.doi.org/10.3969/j.issn.1002-8692.2009.08.049

WU X ， WANG H Y ， LI J . Study on methods for picture quality measurement of HDTV LCD display ［J］. Video Engineering ， 2009 ， 33 （ 8 ）： 109 - 112 . （in Chinese） . doi: 10.3969/j.issn.1002-8692.2009.08.049 http://dx.doi.org/10.3969/j.issn.1002-8692.2009.08.049

严成宸 . TFT-LCD的Mura缺陷检测技术研究［D］. 合肥：合肥工业大学， 2017 ．

YAN C C . Research on detection technique for Mura defect of TFT-LCD ［D］. Hefei ： Hefei University of Technology ， 2017 . （in Chinese）

贝宇 . 基于Zynq的液晶模组缺陷检测设备的研究［D］. 深圳：深圳大学， 2020 ．

BEI Y . Research on defect detection equipment of liquid crystal module based on Zynq ［D］. Shenzhen ： Shenzhen University ， 2020 . （ in Chinese）

GAN Y Z ， ZHAO Q F . An effective defect inspection method for LCD using active contour model ［J］. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement ， 2013 ， 62 （ 9 ）： 2438 - 2445 . doi: 10.1109/tim.2013.2258242 http://dx.doi.org/10.1109/tim.2013.2258242

BI X ， XU X P ， SHEN J H . The application of independent component analysis method on the Mura defect inspection of LCD process ［C］// Proceedings of the 7th International Conference on Intelligent Robotics and Applications . Guangzhou ： Springer ， 2014 ： 321 - 330 . doi: 10.1007/978-3-319-13963-0_33 http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-13963-0_33

SHARMA M K ， VIJAY A ， DAS V . Interval type-2 fuzzy logic image process technology in flexible electronics to analyze defects in TFT-LCD ［M］//DWIVEDI S， SINGH S， TIWARI M， et al. Flexible Electronics for Electric Vehicles . Singapore ： Springer ， 2023 ： 113 - 120 . doi: 10.1007/978-981-19-0588-9_10 http://dx.doi.org/10.1007/978-981-19-0588-9_10

张明亮，黎海波，丁甲，等 . TFT-LCD工艺中Gap性不良的分析与改善［J］. 电子世界， 2017 （ 19 ）： 64 - 66 ． doi: 10.3969/j.issn.1003-0522.2017.19.030 http://dx.doi.org/10.3969/j.issn.1003-0522.2017.19.030

ZHANG M L ， LI H B ， DING J ， et al . Analysis and improvement of gap defect in TFT-LCD technology ［J］. Electronics World ， 2017 （ 19 ）： 64 - 66 . （in Chinese） . doi: 10.3969/j.issn.1003-0522.2017.19.030 http://dx.doi.org/10.3969/j.issn.1003-0522.2017.19.030

尹磊，陈平，冯川，等 . 按压修复异物晕不良的影响因素［J］. 液晶与显示， 2021 ， 36 （ 5 ）： 699 - 704 ． doi: 10.37188/CJLCD.2020-0240 http://dx.doi.org/10.37188/CJLCD.2020-0240

YIN L ， CHEN P ， FENG C ， et al . Influence factors of pressing repair for particle gap ［J］. Chinese Journal of Liquid Crystals and Displays ， 2021 ， 36 （ 5 ）： 699 - 704 . （in Chinese） . doi: 10.37188/CJLCD.2020-0240 http://dx.doi.org/10.37188/CJLCD.2020-0240

贾婉丽 . Photoshop中的色彩空间转换［D］. 西安：西安理工大学， 2002 ．

JIA W L . Color conversions in Photoshop ［D］. Xi'an ： Xi'an University of Technology ， 2002 . （in Chinese）

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