基于改进DEIM的印刷电路板缺陷检测算法

高雪; 袁飞; 霍艳飞

doi:10.37188/CJLCD.2026-0045

您当前的位置：

首页 >

文章列表页 >

基于改进DEIM的印刷电路板缺陷检测算法

图像处理 | 更新时间：2026-06-12

- 基于改进DEIM的印刷电路板缺陷检测算法
- PCB defect detection algorithm based on improved DEIM
- 液晶与显示 2026年41卷第5期页码：700-716
- 作者机构：
  
  1.常州工业职业技术学院智能控制学院，江苏常州 213164
  2.常州工业职业技术学院邓建军工匠学院，江苏常州 213164
  3.大连海洋大学应用技术学院，辽宁大连 116300
- 作者简介：
  
  [ "高雪，女，硕士，副教授，2010年于南京理工大学获得硕士学位，主要从事电子信息与嵌入式系统方面的教学与研究工作。E-mail：13585317253@163.com" ]
- 基金信息：
  
  江苏省高等教育教改立项研究课题（重点）(2023JSJG238);江苏省高等学校基础科学（自然科学）研究面上项目(23KJB460002);常州市应用基础研究计划(CJ20241057)
- DOI：10.37188/CJLCD.2026-0045
  中图分类号： TP391
- CSTR：32172.14.CJLCD.2026-0045
- 收稿：2026-03-19，
  
  修回：2026-04-15，
  
  纸质出版：2026-05-05
- 稿件说明：
移动端阅览
高雪, 袁飞, 霍艳飞. 基于改进DEIM的印刷电路板缺陷检测算法[J]. 液晶与显示, 2026,41(5):700-716.

GAO Xue, YUAN Fei, HUO Yanfei. PCB defect detection algorithm based on improved DEIM[J]. Chinese Journal of Liquid Crystals and Displays, 2026, 41(5): 700-716.
高雪, 袁飞, 霍艳飞. 基于改进DEIM的印刷电路板缺陷检测算法[J]. 液晶与显示, 2026,41(5):700-716. DOI： 10.37188/CJLCD.2026-0045. CSTR： 32172.14.CJLCD.2026-0045.

GAO Xue, YUAN Fei, HUO Yanfei. PCB defect detection algorithm based on improved DEIM[J]. Chinese Journal of Liquid Crystals and Displays, 2026, 41(5): 700-716. DOI： 10.37188/CJLCD.2026-0045. CSTR： 32172.14.CJLCD.2026-0045.

浏览量

下载量

CSCD

文章被引用时，请邮件提醒。

提交

工具集

关联资源

基于改进YOLO11的印刷电路板表面缺陷检测算法

基于改进YOLOv11n的轻量化锥筒识别算法

掺杂具有POSS结构的单体及纳米复合材料对聚合物分散液晶薄膜电光性能的影响

光热协同调控的可涂刷胆甾相液晶

FW-YOLO：一种基于频率引导和小波增强的密集行人检测算法

基于改进DEIM的印刷电路板缺陷检测算法

PCB defect detection algorithm based on improved DEIM

DOI：10.37188/CJLCD.2026-0045