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TFT-LCD表面Mura缺陷的AOI检测研究进展
液晶光学 | 更新时间：2024-11-28
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    • TFT-LCD表面Mura缺陷的AOI检测研究进展

    • Development of AOI inspection of Mura defects on TFT-LCD surface

    • “在液晶显示屏质量检测领域，机器视觉技术凭借高效率、低成本优势成为主要手段。本文重点探讨了人工智能技术在TFT-LCD表面Mura缺陷检测的应用，并展望了技术发展趋势。”
    • 液晶与显示   2024年39卷第11期 页码：1463-1476

    • DOI：10.37188/CJLCD.2024-0235    

      中图分类号： TP391.41

    • 收稿日期：2024-08-14，

      修回日期：2024-09-08，

      纸质出版日期：2024-11-05

    移动端阅览

  • 陈泽康, 沈奕, 翟晨阳, 等. TFT-LCD表面Mura缺陷的AOI检测研究进展[J]. 液晶与显示, 2024,39(11):1463-1476. DOI： 10.37188/CJLCD.2024-0235.

    CHEN Zekang, SHEN Yi, ZHAI Chenyang, et al. Development of AOI inspection of Mura defects on TFT-LCD surface[J]. Chinese journal of liquid crystals and displays, 2024, 39(11): 1463-1476. DOI： 10.37188/CJLCD.2024-0235.

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