Progrès de la recherche sur la détection AOI des défauts Mura sur la surface des TFT-LCD

CHEN Zekang ,  

SHEN Yi ,  

ZHAI Chenyang ,  

DONG Chenyao ,  

WANG Shuangxi ,  

摘要

La détection des défauts de surface des écrans à cristaux liquides est essentielle pour garantir la stabilité de la qualité des écrans TFT-LCD et autres écrans à cristaux liquides. Grâce à son efficacité élevée et son faible coût dans la détection des défauts de surface, la technologie de vision par ordinateur est actuellement le principal moyen de contrôle qualité des TFT-LCD. Cet article présente d'abord l'évolution des écrans LCD, énumère les types courants de défauts Mura, décrit les méthodes de détection des défauts Mura basées sur le traitement d'images traditionnel et sur l'apprentissage profond, et résume les recherches sur les techniques de prétraitement d'images telles que le filtrage et la correction de luminosité. L'article met l'accent sur l'application des techniques d'intelligence artificielle telles que l'apprentissage supervisé, non supervisé et par transfert dans le domaine de la détection des défauts Mura sur la surface des TFT-LCD, et envisage les tendances futures des technologies de vision par ordinateur dans ce domaine.

关键词

TFT-LCD; défauts Mura; vision par ordinateur; traitement d'images; apprentissage profond

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