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基于自相关性和模版匹配的TFT缺陷电路重构算法
图像处理 | 更新时间:2020-07-13
    • 基于自相关性和模版匹配的TFT缺陷电路重构算法

    • TFT defect circuit reconstruction algorithm based on autocorrelation and template matching

    • 液晶与显示   2020年35卷第6期 页码:564-571
    • DOI:10.3788/YJYXS20203506.0564    

      中图分类号: TP278
    • 收稿日期:2019-08-30,

      修回日期:2019-11-12,

      录用日期:2019-11-12,

      纸质出版日期:2020-06-05

    移动端阅览

  • 王永城, 林珊玲, 林志贤, 等. 基于自相关性和模版匹配的TFT缺陷电路重构算法[J]. 液晶与显示, 2020,35(6):564-571. DOI: 10.3788/YJYXS20203506.0564.

    Yong-cheng WANG, Shan-ling LIN, Zhi-xian LIN, et al. TFT defect circuit reconstruction algorithm based on autocorrelation and template matching[J]. Chinese journal of liquid crystals and displays, 2020, 35(6): 564-571. DOI: 10.3788/YJYXS20203506.0564.

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