TFT-LCD中液晶取向异常亮点机理研究及改善

周波; 王祺; 宋勇志; 洪永泰; 陈维涛

doi:10.3788/YJYXS20203502.0115

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TFT-LCD中液晶取向异常亮点机理研究及改善

材料与器件 | 更新时间：2020-07-16

- TFT-LCD中液晶取向异常亮点机理研究及改善
- Research and improvement of bright dot caused by abnormal liquid crystal alignment on TFT-LCD
- 液晶与显示 2020年35卷第2期页码：115-121
- 作者机构：
  
  北京京东方显示技术有限公司, 北京 100176
- 作者简介：
  
  [ "周波(1985-), 男, 河北保定人, 硕士, 2010年于南开大学获得硕士学位, 主要从事TFT-LCD工艺技术方面的研究。E-mail:zhoubo@boe.com.cn" ]
  [ "王祺(1989-), 男, 山东日照人, 硕士, 2016年于天津大学获得硕士学位, 主要从事TFT-LCD工艺技术方面的研究。E-mail:wqi@boe.com.cn" ]
- 基金信息：
- DOI：10.3788/YJYXS20203502.0115
  中图分类号： TN141.9
- 收稿日期：2019-06-18，
  
  修回日期：2019-11-04，
  
  录用日期：2019-11-4，
  
  纸质出版日期：2020-02-05
- 稿件说明：
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周波, 王祺, 宋勇志, 等. TFT-LCD中液晶取向异常亮点机理研究及改善[J]. 液晶与显示, 2020,35(2):115-121.

Bo ZHOU, Qi WANG, Yong-zhi SONG, et al. Research and improvement of bright dot caused by abnormal liquid crystal alignment on TFT-LCD[J]. Chinese journal of liquid crystals and displays, 2020, 35(2): 115-121.
周波, 王祺, 宋勇志, 等. TFT-LCD中液晶取向异常亮点机理研究及改善[J]. 液晶与显示, 2020,35(2):115-121. DOI： 10.3788/YJYXS20203502.0115.

Bo ZHOU, Qi WANG, Yong-zhi SONG, et al. Research and improvement of bright dot caused by abnormal liquid crystal alignment on TFT-LCD[J]. Chinese journal of liquid crystals and displays, 2020, 35(2): 115-121. DOI： 10.3788/YJYXS20203502.0115.

摘要

在采用摩擦配向工艺实现液晶取向的TFT-LCD显示屏中，外形不规则亮点不良主要有两种：一种是由可见异物造成的亮点，可以通过加强摩擦后清洗等改善；另一种亮点不良并没有伴随可见异物发生。为提升TFT-LCD良率，亟需明确后者的形成机理并制定改善对策。经分析发现，此种不可见异物亮点位置处液晶取向异常，通过进一步对不良区域微观结构和成分的分析，确认该区域表面有厚约7.5~10 nm的杂质区，造成液晶取向异常；然后通过液晶和配向膜取向异常的再现性测试，锁定摩擦布中背胶和柔顺剂残留是造成液晶取向异常的主要因素，明确了此不良的发生机理；最后，在生产线实际测试了减少背胶和柔顺剂的摩擦布，非异物亮点不良由0.6%降至0%，验证了我们的机理推测和实验室测试结果的有效性。

Abstract

There are two main types of bright dot defects in TFT LCD where liquid crystal is aligned by rubbing process

one is with particles and the other is without particles. The former can be reduced by enhancing cleaning

but the way to reduce the bright dots without particles is barely studied

so research and experiments are performed. According to macro and micro result

the alignment of liquid crystal is abnormal because of impurities as tall as 7.5~10 nm in the defect area. It can be deduced that the abnormally alignment is caused by the remaining of the back coating and the softener agent on the PI surface. Lastly

the rubbing cloth

in which the back coating and the softener agent are reduced

is tested in our factory. The results show that the bright dots w/o particles decrease from 0.6% to 0% when the back coating and the softener agent in the rubbing cloth are reduced

which proves the effectiveness of the laboratory results and the correction of the mechanism.

关键词

Keywords

references

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