TFT-LCD横纹不良研究与改善

王超; 姚之晓

doi:10.3788/YJYXS20193405.0477

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TFT-LCD横纹不良研究与改善

材料与器件 | 更新时间：2020-07-05

- TFT-LCD横纹不良研究与改善
- Analysis and improvement of TFT-LCD horizontal stripes defect
- 液晶与显示 2019年34卷第5期页码：477-481
- 作者机构：
  
  北京京东方显示技术有限公司, 北京 100176
- 作者简介：
  
  [ "王超(1987-), 男, 北京人, 学士, 高级工程师, 2010年于哈尔滨理工大学获得学士学位, 主要从事液晶面板工艺制程不良改进研究工作。E-mail:wangchao_dt1@boe.com.cn" ]
- 基金信息：
- DOI：10.3788/YJYXS20193405.0477
  中图分类号： TN141.9
- 收稿日期：2018-12-19，
  
  录用日期：2019-3-4，
  
  纸质出版日期：2019-05
- 稿件说明：
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王超, 姚之晓. TFT-LCD横纹不良研究与改善[J]. 液晶与显示, 2019,34(5):477-481.

Chao WANG, Zhi-Xiao YAO. Analysis and improvement of TFT-LCD horizontal stripes defect[J]. Chinese journal of liquid crystals and displays, 2019, 34(5): 477-481.
王超, 姚之晓. TFT-LCD横纹不良研究与改善[J]. 液晶与显示, 2019,34(5):477-481. DOI： 10.3788/YJYXS20193405.0477.

Chao WANG, Zhi-Xiao YAO. Analysis and improvement of TFT-LCD horizontal stripes defect[J]. Chinese journal of liquid crystals and displays, 2019, 34(5): 477-481. DOI： 10.3788/YJYXS20193405.0477.

摘要

本文研究了一款TFT-LCD HADS产品出现的21.4%横纹不良。通过分析和改善研究表明，产生横纹的根本原因是

com

反馈信号与CLK

、CLK

信号产生耦合效应及

com

补偿电路共同作用下，导致

com

在栅压关闭前存在三上三下的周期性波动，形成三行暗三行亮水平粗纹；根据原理分析进行不良改善实验验证，最终通过调整降低

com

补偿电路倍数，将该不良降低至0%。

Abstract

In this paper

we explore a kind of horizontal stripes defect which happened 21.4% in TFT-LCD HADS product. Through analysis and improvement study

the main reason for horizontal stripes defect was the coupling effect of

com

Feedback signal and CLK

CLK

signal

and

com

compensation circuit. As a result

there are three periodic fluctuations of

com

before Gate closing

which form three lines of dark and three lines of bright horizontal rough lines. According to the principle analysis

the defect improvement experiment is verified. Finally

by adjusting the

com

compensation circuit multiple

the defect is reduced to 0%.

关键词

Keywords

references

桑青, 王明超.无边框液晶显示——透过专利分析看发展现状[J].科技资讯, 2016, 14(21):138-139, 141.

SANG Q, WANG M C. Borderless LCD- through patent analysis to see the status quo of development[J]. Science & Technology Information , 2016, 14(21):138-139, 141. (in Chinese)

史秋飞, 郑英花, 朱載榮, 等.边角Zara Domain及其改善研究[J].液晶与显示, 2012, 27(6):770-773.

SHI Q F, ZHENG Y H, ZHU Z R, et al . Improvement of corner Zara domain[J]. Chinese Journal of Liquid Crystals and Displays , 2012, 27(6):770-773. (in Chinese)

徐伟, 彭毅雯, 雷有华, 等. TFT-LCD横向线状未确认Mura分析及改善研究[J].液晶与显示, 2013, 28(4):539-546.

XU W, PENG Y W, LEI Y H, et al . Analysis and improvement of TFT-LCD horizontal line unknown Mura[J]. Chinese Journal of Liquid Crystals and Displays , 2013, 28(4):539-546. (in Chinese)

侯帅, 高玉杰, 张亮.一种公共电极 V com 电压调节方法及装置: 中国,

CN102842295A[P].2012-12-26. HOU S, GAO Y J, ZHANG L. Common electrode V com voltage regulation method and device: CN, CN102842295A[P]. 2012-12-26. (in Chinese)

许哲涛, 苏文刚, 刘磊, 等.一种公共电压补偿电路、补偿方法及显示面板: 中国,

CN105513527A[P].2016-04-20. XU Z T, SU W G, LIU L, et al . Common voltage compensation circuit, compensation method and display panel: CN, CN105513527A[P]. 2016-04-20. (in Chinese)

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