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FPD气相色谱法测定液晶材料中微量有机膦杂质
材料与器件 | 更新时间:2020-07-07
    • FPD气相色谱法测定液晶材料中微量有机膦杂质

    • Determination of organic phosphorus impurities in liquid crystal materials by FPD gas chromatography

    • 液晶与显示   2017年32卷第5期 页码:357-360
    • DOI:10.3788/YJYXS20173205.0357    

      中图分类号: O753.2
    • 收稿日期:2016-09-18,

      录用日期:2016-10-20,

      纸质出版日期:2017-05

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  • 霍学兵, 韩锦伟, 张鹏, 等. FPD气相色谱法测定液晶材料中微量有机膦杂质[J]. 液晶与显示, 2017,32(5):357-360. DOI: 10.3788/YJYXS20173205.0357.

    Xue-bing HUO, Jin-wei HAN, peng ZHANG, et al. Determination of organic phosphorus impurities in liquid crystal materials by FPD gas chromatography[J]. Chinese journal of liquid crystals and displays, 2017, 32(5): 357-360. DOI: 10.3788/YJYXS20173205.0357.

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