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N掺杂MgZnO薄膜的p型导电稳定性研究
材料物理和化学 | 更新时间:2020-08-12
    • N掺杂MgZnO薄膜的p型导电稳定性研究

    • Stability of P-type conductivity in nitrogen-doped MgZnO thin film

    • 液晶与显示   2015年30卷第6期 页码:925-929
    • DOI:10.3788/YJYXS20153006.0925    

      中图分类号: O472
    • 收稿日期:2015-02-10,

      修回日期:2015-03-07,

      纸质出版日期:2015-12-05

    移动端阅览

  • 高丽丽, 李淞菲, 曹天福等. N掺杂MgZnO薄膜的p型导电稳定性研究[J]. 液晶与显示, 2015,30(6): 925-929 DOI: 10.3788/YJYXS20153006.0925.

    GAO Li-li, LI Song-fei, CAO Tian-fu etc. Stability of P-type conductivity in nitrogen-doped MgZnO thin film[J]. , 2015,30(6): 925-929 DOI: 10.3788/YJYXS20153006.0925.

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