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基于使用负性液晶的边沿场切换模式的局部残影分析
材料物理和化学 | 更新时间:2020-08-12
    • 基于使用负性液晶的边沿场切换模式的局部残影分析

    • Analysis of FFS image sticking with negative liquid crystal

    • 液晶与显示   2015年30卷第3期 页码:399-403
    • DOI:10.3788/YJYXS20153003.0399    

      中图分类号: TN27
    • 收稿日期:2014-09-11,

      修回日期:2014-10-09,

      纸质出版日期:2015-06-05

    移动端阅览

  • 许雅琴, 苏子芳, 钟德镇, 关星, 刘英明. 基于使用负性液晶的边沿场切换模式的局部残影分析[J]. 液晶与显示, 2015,30(3): 399-403 DOI: 10.3788/YJYXS20153003.0399.

    XU Ya-qin, SU Zi-fang, ZHONG Smart, GUAN Xing, LIU Ying-ming. Analysis of FFS image sticking with negative liquid crystal[J]. , 2015,30(3): 399-403 DOI: 10.3788/YJYXS20153003.0399.

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