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扭曲向列相薄盒中线缺陷的研究
材料物理和化学 | 更新时间:2020-08-12
    • 扭曲向列相薄盒中线缺陷的研究

    • Study of line defects in a thin twisted nematic cell

    • 液晶与显示   2015年30卷第2期 页码:213-223
    • DOI:10.3788/YJYXS20153002.0213    

      中图分类号: O753.2
    • 收稿日期:2014-09-01,

      修回日期:2014-09-18,

      纸质出版日期:2015-04-05

    移动端阅览

  • 余洋, 周璇, 张志东. 扭曲向列相薄盒中线缺陷的研究[J]. 液晶与显示, 2015,30(2): 213-223 DOI: 10.3788/YJYXS20153002.0213.

    YU Yang, ZHOU Xuan, ZHANG Zhi-dong. Study of line defects in a thin twisted nematic cell[J]. , 2015,30(2): 213-223 DOI: 10.3788/YJYXS20153002.0213.

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