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GOA型TFT LCD产品Shorting Bar Testing工序烧伤现象研究
器件物理及器件制备技术 | 更新时间:2020-08-12
    • GOA型TFT LCD产品Shorting Bar Testing工序烧伤现象研究

    • Die burn of GOA type TFT LCD products during shorting Bar Testing

    • 液晶与显示   2015年30卷第1期 页码:51-56
    • DOI:10.3788/YJYXS20153001.0051    

      中图分类号: TN321+.5
    • 收稿日期:2014-04-16,

      修回日期:2014-05-18,

      纸质出版日期:2015-02-05

    移动端阅览

  • 刘志军. GOA型TFT LCD产品Shorting Bar Testing工序烧伤现象研究[J]. 液晶与显示, 2015,30(1): 51-56 DOI: 10.3788/YJYXS20153001.0051.

    LIU Zhi-jun. Die burn of GOA type TFT LCD products during shorting Bar Testing[J]. , 2015,30(1): 51-56 DOI: 10.3788/YJYXS20153001.0051.

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