用于集成成像的针孔/微透镜组合阵列设计与仿真

周雄图; 陈恩果; 姚剑敏; 徐胜; 曾祥耀; 林金堂; 张永爱; 郭太良

doi:10.3788/YJYXS20132806.0855

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用于集成成像的针孔/微透镜组合阵列设计与仿真

器件物理及器件制备技术 | 更新时间：2020-08-12

- 用于集成成像的针孔/微透镜组合阵列设计与仿真
- Design and Simulation of Combined Pinholes/Microlens Array for Integral Imaging
- 液晶与显示 2013年28卷第6期页码：855-859
- 作者机构：
  
  福州大学物理与信息工程学院, 福建福州 350002
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国家();863 计划&rdquo();课题（No. 2012AA03A301）();教育部博士点基金（No.20133514120011）();福建省教育厅项目（No
- DOI：10.3788/YJYXS20132806.0855
  中图分类号： O435;TN27
- 收稿日期：2013-05-04，
  
  修回日期：2013-06-06，
  
  纸质出版日期：2013-12-15
- 稿件说明：
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周雄图, 陈恩果, 姚剑敏, 徐胜, 曾祥耀, 林金堂, 张永爱, 郭太良. 用于集成成像的针孔/微透镜组合阵列设计与仿真[J]. 液晶与显示, 2013,28(6): 855-859

ZHOU Xiong-tu, CHEN En-guo, YAO Jian-min, XU Sheng, ZENG Xiang-yao, LIN Jin-tang, ZHANG Yong-ai, GUO Tai-liang. Design and Simulation of Combined Pinholes/Microlens Array for Integral Imaging[J]. , 2013,28(6): 855-859
周雄图, 陈恩果, 姚剑敏, 徐胜, 曾祥耀, 林金堂, 张永爱, 郭太良. 用于集成成像的针孔/微透镜组合阵列设计与仿真[J]. 液晶与显示, 2013,28(6): 855-859 DOI： 10.3788/YJYXS20132806.0855.

ZHOU Xiong-tu, CHEN En-guo, YAO Jian-min, XU Sheng, ZENG Xiang-yao, LIN Jin-tang, ZHANG Yong-ai, GUO Tai-liang. Design and Simulation of Combined Pinholes/Microlens Array for Integral Imaging[J]. , 2013,28(6): 855-859 DOI： 10.3788/YJYXS20132806.0855.

摘要

集成成像3D显示是一种利用微透镜阵列进行三维信息记录和重现的技术，针对集成成像3D显示过程中，微透镜之间间隙导致的杂散光引起干扰以及微透镜所成像之间的串扰导致的重构图像质量下降原因，采用针孔阵列的不透光部分来屏蔽杂散光，构建了针孔/微透镜组合阵列结构。根据集成成像原理，分析针孔/微透镜组合阵列的参数，并利用Tracepro光学软件对集成成像3D显示过程进行仿真，结果显示：在记录和重构阶段，针孔/微透镜组合阵列都能有效减少通过微透镜之间间隙的杂散光引起的与成像无关的亮斑，提高图像显示质量；当记录阶段和重构阶段均采用针孔/微透镜组合阵列时，得到的重构图像质量最好。

Abstract

Integral imaging is a display technology which captures and displays three-dimensional (3D) information using microlens array

stray light from the intervals between the elemental lens and crosstalk between the elemental images might affect the quality of the reconstructed image. This paper presents a combined pinholes/microlens array

in which the pinholes array was used to reduce the stray light. The parameters were designed and analyzed according to the principle of integral imaging

and the 3D display process was simulated using Tracepro. The results show that the presence of pinholes array reduces remarkably the lilght spots irrelevanted to the imaging during both the pickup and reconstruction of images. Especially

when the pickup lens and reconstructed lens were both pinholes/microlens array

the reconstructed image with the highest quality was obtained.

关键词

Keywords

references

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