液晶模组ESD失效分析及防护研究

李卿硕; 吴倩; 王莎

doi:10.3788/YJYXS20132805.0711

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液晶模组ESD失效分析及防护研究

器件物理及器件制备技术 | 更新时间：2020-08-12

- 液晶模组ESD失效分析及防护研究
- TFT-LCD Module ESD Failure Analysis and Protection Research
- 液晶与显示 2013年28卷第5期页码：711-715
- 作者机构：
  
  成都京东方光电科技有限公司,四川成都,611731
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：10.3788/YJYXS20132805.0711
  中图分类号： TN303
- 收稿日期：2012-12-04，
  
  修回日期：2013-04-24，
  
  纸质出版日期：2013-10-15
- 稿件说明：
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李卿硕, 吴倩, 王莎. 液晶模组ESD失效分析及防护研究[J]. 液晶与显示, 2013,28(5): 711-715

LI Qing-shuo, WU Qian, WANG Sha. TFT-LCD Module ESD Failure Analysis and Protection Research[J]. , 2013,28(5): 711-715
李卿硕, 吴倩, 王莎. 液晶模组ESD失效分析及防护研究[J]. 液晶与显示, 2013,28(5): 711-715 DOI： 10.3788/YJYXS20132805.0711.

LI Qing-shuo, WU Qian, WANG Sha. TFT-LCD Module ESD Failure Analysis and Protection Research[J]. , 2013,28(5): 711-715 DOI： 10.3788/YJYXS20132805.0711.

摘要

研究了液晶模组结构与静电放电(ESD)路径间的关系

当液晶模组受ESD冲击电荷无法顺利导出

抗ESD能力仅有2 kV 的Driver IC便成为最容易损坏的器件

IC失效会导致液晶模组无法正常工作。实验证明

当在ESD放电路径上特定位置增加静电保护装置

可将瞬间的电荷浪涌导入大地以提高液晶模组抗ESD的能力。论文探讨了一种在TFT基板增加静电环设计的方法可以代替FPC增加TVS管的现有模式。

Abstract

The relationship between LCD construction and Electrostatic Discharge(ESD) path was studied. Driver IC with the 2 kV ability for ESD generally

is the most easily damaged device when LCD attacked by ESD and the ESD charge is unable to disperse. LCD module can't work properly when drive IC was damaged. It is proved that additional device for ESD protect on the path of ESD circuit can conduct instantaneous current to ground to improve the ESD resistant ability of LCD module. A new method for additional electrostatic ring design on TFT substrate can instead of adding TVS tubes on FPC circuit

and this new design can be implemented without cost up.

关键词

Keywords

references

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