OLED器件光电性能集成测试系统研制

刘健; 谢文法

doi:10.3788/YJYXS20132801.0132

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OLED器件光电性能集成测试系统研制

产业技术与测试 | 更新时间：2020-08-12

- OLED器件光电性能集成测试系统研制
- Integrated Optoelectronic Performance Test System for OLEDs
- 液晶与显示 2013年28卷第1期页码：132-137
- 作者机构：
  
  集成光电子学国家重点联合实验室吉林大学实验区, 吉林大学电子科学与工程学院,吉林长春,130012
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国家自然科学基金项目(No. 60937001,11074096,61177026)();教育部新世纪优秀人才支持计划(No. NCET-100446)()
- DOI：10.3788/YJYXS20132801.0132
  中图分类号： TM615
- 收稿日期：2012-06-27，
  
  修回日期：2012-12-27，
  
  纸质出版日期：2013-02-15
- 稿件说明：
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刘健, 谢文法. OLED器件光电性能集成测试系统研制[J]. 液晶与显示, 2013,(1): 132-137

LIU Jian, XIE Wen-fa. Integrated Optoelectronic Performance Test System for OLEDs[J]. , 2013,(1): 132-137
刘健, 谢文法. OLED器件光电性能集成测试系统研制[J]. 液晶与显示, 2013,(1): 132-137 DOI： 10.3788/YJYXS20132801.0132.

LIU Jian, XIE Wen-fa. Integrated Optoelectronic Performance Test System for OLEDs[J]. , 2013,(1): 132-137 DOI： 10.3788/YJYXS20132801.0132.

摘要

为方便对OLED器件的各项性能进行测试

研发了一种OLED器件光电性能集成测试系统

实现了在同一个软件下的OLED器件的电压、电流、亮度、光谱、色坐标和寿命等特性的集成测试。介绍了计算机与各测试设备的通信方法

通过计算机控制测量仪器对OLED器件进行测量。使用了Microsoft Visual 2005开发工具

利用MFC(Microsoft Foundation Classes)开发出了图形用户界面下的应用程序。利用TeeChart(西班牙Steema公司研发的图表控件)控件实现了OLED器件性能特性曲线的实时动态显示

并能够对不同器件的测试结果进行性能曲线的对比。编写了色坐标助手软件

实现对测试软件测试的光谱数据的分析显示功能。

Abstract

In order to test the performance of organic light-emitting devices(OLEDs)

an integrated photoelectric performance test system for OLEDs was designed and developed. The performances of the OLEDs (such as voltage-current

brightness

spectrum

chromaticity coordinates

lifetime

etc) could be measured in the same software. The communication routine between personal computers and the individual test equipments was described.The electroluminescent(EL) properties of OLEDs can be successfully obtained through simple control in a general computer. Using MFC(Microsoft Foundation Classes)

a development tool of Microsoft Visual 2005

one convenient graphical user interface was successfully developed. Real-time display of the test process about the devices was realized through TeeChart (a graphical software developed by Steema). Furthermore

the characteristics of different devices could be compared by showing their curves in the same diagram. In addition

one CIE chromaticity coordinates assistant tool was developed

thus we manage to analyze the EL spectra and obtain the CIE chromaticity coordinates of the devices.

关键词

Keywords

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