多通道OLED器件寿命分析测试系统研制

余树福; 胡典钢; 王坚; 彭俊彪

doi:10.3788/YJYXS20112604.0532

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多通道OLED器件寿命分析测试系统研制

器件驱动与控制 | 更新时间：2020-08-12

- 多通道OLED器件寿命分析测试系统研制
- Multi-Channel OLED Stress Test System
- 液晶与显示 2011年26卷第4期页码：532-537
- 作者机构：
  
  华南理工大学高分子光电材料与器件研究所, 特种功能材料教育部重点实验室, 广东广州 510640
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国家"();863"();项目(No. 20090325,No.2008AA03A311)();973"();项目(No. 2009CB6236
- DOI：10.3788/YJYXS20112604.0532
  中图分类号： TN383+.1
- 收稿日期：2011-03-11，
  
  修回日期：2011-04-29，
  
  网络出版日期：2011-08-20，
  
  纸质出版日期：2011-08-20
- 稿件说明：
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余树福, 胡典钢, 王坚, 彭俊彪. 多通道OLED器件寿命分析测试系统研制[J]. 液晶与显示, 2011,26(4): 532-537

YU Shu-fu, HU Dian-gang, WANG Jian, PENG Jun-biao. Multi-Channel OLED Stress Test System[J]. , 2011,26(4): 532-537
余树福, 胡典钢, 王坚, 彭俊彪. 多通道OLED器件寿命分析测试系统研制[J]. 液晶与显示, 2011,26(4): 532-537 DOI： 10.3788/YJYXS20112604.0532.

YU Shu-fu, HU Dian-gang, WANG Jian, PENG Jun-biao. Multi-Channel OLED Stress Test System[J]. , 2011,26(4): 532-537 DOI： 10.3788/YJYXS20112604.0532.

摘要

研发了一种多通道、多功能的OLED寿命分析测试系统。该系统可以在恒定驱动电流、恒定驱动电压、恒定发光强度3种不同驱动模式下同时对512路OLED器件进行寿命测试

并可实现对测试环境温度和湿度的控制

控制器件老化的环境。测试系统具有高精度和宽测试范围

操作电流范围为0.02~100 mA

操作电压范围为0~24 V。系统采用模块化设计

可以根据用户需求灵活地搭建512

256

128

32路测试系统。基于LabVIEW开发环境编写的系统软件具有非常友好的操作界面和断电自保护功能

保证了测试的连续性。

Abstract

A multi-channel OLED stress test system was designed and made. The system could simultaneously stress 512 OLED devices independently in constant current

constant voltage

or constant light intensity testing mode. The system has a wide range of testing conditions with output current from 0.02 mA to 100 mA

and output voltage from 0 to 24 V. The system adopts a modular design which could easily build 512

256

128

32 channels based on users needs. The application software built on LabVIEW development platform includes a user-friendly interface

and a self-protection feature from power failure

ensuring the continuity of the testing

and the safety of the data. With an environment chamber

the ambient temperature and humidity could be conveniently adjusted.

关键词

Keywords

references

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