OLED光电性能综合测试系统的设计

张玉杰; 宋孟华

doi:10.3788/YJYXS20112601.0064

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OLED光电性能综合测试系统的设计

器件制备技术及器件物理 | 更新时间：2020-08-12

- OLED光电性能综合测试系统的设计
- Design of Integrated Testing System for OLED Photoelectric Properties
- 液晶与显示 2011年26卷第1期页码：64-67
- 作者机构：
  
  陕西科技大学电气与信息工程学院,陕西西安,710049
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  陕西省教育厅专项基金(No.09JK371)()
- DOI：10.3788/YJYXS20112601.0064
  中图分类号： TN383+.1
- 收稿日期：2010-10-11，
  
  修回日期：2010-11-09，
  
  网络出版日期：2011-02-20，
  
  纸质出版日期：2011-02-20
- 稿件说明：
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张玉杰, 宋孟华. OLED光电性能综合测试系统的设计[J]. 液晶与显示, 2011,26(1): 64-67

ZHANG Yu-jie, SONG Meng-hua. Design of Integrated Testing System for OLED Photoelectric Properties[J]. , 2011,26(1): 64-67
张玉杰, 宋孟华. OLED光电性能综合测试系统的设计[J]. 液晶与显示, 2011,26(1): 64-67 DOI： 10.3788/YJYXS20112601.0064.

ZHANG Yu-jie, SONG Meng-hua. Design of Integrated Testing System for OLED Photoelectric Properties[J]. , 2011,26(1): 64-67 DOI： 10.3788/YJYXS20112601.0064.

摘要

针对目前有机发光二极管(OLED)器件光电性能测量普遍采用分立设备手动测量的现状

提出了一种以微控制器为核心的OLED光电性能综合测试系统方案

介绍了系统各部分的软硬件设计方法。系统可以在一个平台上同时对发光器件的各种光电特性进行测量

实现了光电特性实验的计算机化

具有综合性强、测量方便、精确度高等特点。

Abstract

In order to improve the current manual testing situation based on discrete devices

a comprehensive photoelectric property testing system with a core of microcontroller is introduced in this paper

and the software and hardware design of this system are discussed in detail. The photoelectric properties of luminescent devices can be measured simultaneously by using a single platform which makes the experiment computerized

and has advantages of high integrity

convenient and accuracy.

关键词

Keywords

references

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