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基于AttentionGAN和形态学重建的TFT阵列缺陷检测
器件制备及检测 | 更新时间：2020-12-04

    • 基于AttentionGAN和形态学重建的TFT阵列缺陷检测

    • TFT array defect detection based on AttentionGAN and morphological reconstruction

    • 液晶与显示   2020年35卷第12期 页码：1270-1277

    • DOI：10.37188/YJYXS20203512.1270    

      中图分类号：

    • 录用日期：2020-8-17，

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  • 陈炜炜, 严群, 姚剑敏. 基于AttentionGAN和形态学重建的TFT阵列缺陷检测[J]. 液晶与显示, 2020,35(12):1270-1277. DOI： 10.37188/YJYXS20203512.1270.

    Wei-wei CHEN, Qun YAN, Jian-min YAO. TFT array defect detection based on AttentionGAN and morphological reconstruction[J]. Chinese journal of liquid crystals and displays, 2020, 35(12): 1270-1277. DOI： 10.37188/YJYXS20203512.1270.

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