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基于杂质离子含量评价的LTPS-LCD面板测量体系
显示技术与应用 | 更新时间:2021-09-30
    • 基于杂质离子含量评价的LTPS-LCD面板测量体系

    • Masurement system of LTPS-LCD panel based on evaluation of impurity ion content

    • 液晶与显示   2021年36卷第10期 页码:1388-1394
    • DOI:10.37188/CJLCD.2021-0119    

      中图分类号: TN873.93;TB497
    • 收稿日期:2021-04-09

      修回日期:2021-05-27

      纸质出版日期:2021-10

    移动端阅览

  • 邓文广, 许叶潞, 温建辉, 等. 基于杂质离子含量评价的LTPS-LCD面板测量体系[J]. 液晶与显示, 2021,36(10):1388-1394. DOI: 10.37188/CJLCD.2021-0119.

    Wen-guang DENG, Ye-lu XU, Jian-hui WEN, et al. Masurement system of LTPS-LCD panel based on evaluation of impurity ion content[J]. Chinese journal of liquid crystals and displays, 2021, 36(10): 1388-1394. DOI: 10.37188/CJLCD.2021-0119.

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