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WO3薄膜电致变色器件的响应时间测试及其改善方案
器件物理及器件制备 | 更新时间:2021-04-28
    • WO3薄膜电致变色器件的响应时间测试及其改善方案

    • Measuring and improving response time of WO3 thin film electrochromic devices

    • 液晶与显示   2021年36卷第5期 页码:641-648
    • DOI:10.37188/CJLCD.2020-0293    

      中图分类号: TN27;TN383.1
    • 收稿日期:2020-11-03,

      修回日期:2021-01-15,

      纸质出版日期:2021-05

    移动端阅览

  • 孙天皓, 刘红均, 伏桂月, 等. WO3薄膜电致变色器件的响应时间测试及其改善方案[J]. 液晶与显示, 2021,36(5):641-648. DOI: 10.37188/CJLCD.2020-0293.

    Tian-hao SUN, Hong-jun LIU, Gui-yue FU, et al. Measuring and improving response time of WO3 thin film electrochromic devices[J]. Chinese journal of liquid crystals and displays, 2021, 36(5): 641-648. DOI: 10.37188/CJLCD.2020-0293.

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相关作者

孙天皓
刘红均
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娄飞
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刘召军
邱成峰
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南方科技大学 电子与电气工程系
香港科技大学 先进显示与光电技术国家重点实验室
东华大学 信息科学与技术学院
光电信息控制和安全技术重点实验室
西安近代化学研究所
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