基于BRM的白光OLED恒定与步进应力加速寿命试验研究

张建平; 吴亮; 成国梁; 周廷君; 朱文清

doi:null

您当前的位置：

首页 >

文章列表页 >

基于BRM的白光OLED恒定与步进应力加速寿命试验研究

器件物理及器件制备技术 | 更新时间：2020-08-12

- 基于BRM的白光OLED恒定与步进应力加速寿命试验研究
- Constant-Step Stress Accelerated Life Tests of White OLED by BRM
- 液晶与显示 2012年27卷第2期页码：187-192
- 作者机构：
  
  1. 上海电力学院能源与环境工程学院上海,200090
  2. 上海天逸电器有限公司上海,201611
  3. 上海大学新型显示技术及应用集成教育部重点实验室上海,200072
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  上海市科委项目(No.11160500600,No.10dz1140206)();新型显示技术及应用集成教育部重点实验室(上海大学)(No.P201002)();上海市
- DOI：
  中图分类号： TN873+.3
- 收稿日期：2011-11-08，
  
  修回日期：2011-11-24，
  
  网络出版日期：2012-04-15，
  
  纸质出版日期：2012-04-15
- 稿件说明：
移动端阅览
张建平, 吴亮, 成国梁, 周廷君, 朱文清. 基于BRM的白光OLED恒定与步进应力加速寿命试验研究[J]. 液晶与显示, 2012,(2): 187-192

ZHANG Jian-ping, WU Liang, CHENG Guo-liang, ZHOU Ting-jun, ZHU Wen-qing. Constant-Step Stress Accelerated Life Tests of White OLED by BRM[J]. , 2012,(2): 187-192
张建平, 吴亮, 成国梁, 周廷君, 朱文清. 基于BRM的白光OLED恒定与步进应力加速寿命试验研究[J]. 液晶与显示, 2012,(2): 187-192 DOI：

ZHANG Jian-ping, WU Liang, CHENG Guo-liang, ZHOU Ting-jun, ZHU Wen-qing. Constant-Step Stress Accelerated Life Tests of White OLED by BRM[J]. , 2012,(2): 187-192 DOI：

摘要

为了获得白光OLED的寿命信息

通过加大电流应力开展了二组恒定和一组步进应力相组合的加速寿命试验。采用威布尔函数描述白光OLED的寿命分布

利用双线性回归法(BRM)估计出威布尔参数

确定了加速寿命方程

对白光OLED寿命是否符合威布尔分布进行了Kolmogorov-Smirnov检验

并利用自行开发的寿命预测软件计算出平均寿命和中位寿命。数值结果表明

恒定步进应力加速寿命试验方案是切实可行的

白光OLED的寿命服从威布尔分布

寿命应力关系满足线性Arrhenius方程

精确计算的加速参数可实现在短时间内OLED寿命的预测。

Abstract

In order to acquire the life information of white OLED

two constant and one step stress accelerated life tests (ALT) were conducted with current stress increased. Weibull Distribution function was applied to describing the life distribution

Bilinear Regression Method (BRM) was employed to estimate the Weibull parameters

and the accelerated life equation was determined. The Kolmogorov-Smirnov test was performed to verify whether the White OLED life met the Weibull distribution or not

and the software developed by authors was used to calculate the average life and median life. The numerical results indicate that the test plans of constant-step ALT are feasible and versatile

that the OLED life follows the Weibull distribution

and that the life-stress relationship satisfies linear Arrhenius equation completely. The precise accelerated parameter is shown to be particularly useful to predict the OLED life within shorter time.

关键词

Keywords

references

袁永波, 连加容, 周翔. 空穴阻挡层对有机发光二极管寿命的影响 [J]. 电子器件, 2008, 31(1): 25-28.[2] 郭朋辉. OLED器件技术及产业化进展. 技术论坛, 2010,(1):46-50.[3] 冯迪砂, 吴斌. OLED显示技术综述 [J]. 福建电脑, 2006,(5):28-30.[4] 许伟. 寿命是目前OLED最大技术难点. 中国电子报, 2008-01-01(8).[5] 陈循, 张春华. 加速试验技术的研究、应用与发展 [J]. 机械工程学报, 2009, 45(8):130-136.[6] 黄婷婷, 姜同敏. 加速寿命试验中统计加速模型综述 [J]. 装备环境工程, 2010,7(4):57-62.[7] Eisenbrand F, Karrenbauer A, Xu C H. Algorithms for longer OLED lifetime [J]. Lecture Notes in Computer Science, 2007,4525:338-351.[8] Sakariya K, Ng C K M, Servati P, et al. Accelerated stress testing of a-Si:H pixel circuits for AMOLED displays [J]. IEEE Transactions on Electron Devices, 2005,52(12):2577-2583.[9] Juan C J, Tsai M J. Implementation of a novel system for measuring the lifetime of OLED panels [J]. IEEE Consume Electronics, 2003, 49(1): 1-2.[10] Jong In Park, Suk Joo Bae. Direct prediction methods on lifetime distribution of organic light-emitting diodes from accelerated degradation tests [J]. IEEE Transactions on Reliability, 2010, 59(1):74-90.[11] 李书明, 董成利, 黄燕晓. 基于威布尔的发动机涡轮叶片寿命可靠性评估 [J]. 中国民航大学学报, 2008, 26(4): 14-17.[12] 茆诗松. 加速寿命试验的加速模型 [J]. 质量与可靠性, 2003, (2):15-17.[13] Zhang J P, Wang R T. Reliability life prediction of VFD by constant temperature stress accelerated life tests and maximum likelihood estimation [J]. J. Testing and Evaluation, 2009, 37(4):316-320.[14] 张建平, 武文丽, 朱文清. Weibull分布下基于MLE的红外发光二极管寿命预测 [J]. 半导体光电, 2011, 32(1):47-51.[15] Barr D R, Davidson T. A Kolmogorov-Smirnov test for censored samples [J]. Techno metrics, 1973, 15(4):739-757.

浏览量

101

下载量

CSCD

文章被引用时，请邮件提醒。

提交

工具集

关联资源

Mini LED和OLED电视在不同环境光强度下的对比度和人眼感知实验研究

隧道磁阻传感器在OLED电流检测中的应用

极性相反结构的micro-LED和OLED混合集成显示器件的驱动

喷墨打印OLED发光层像素坑内成膜控制方法

OLED器件电学物理理论综述