Zara漏光和Rubbing Mura改善研究

石天雷; 杨国波; 程石; 杭苗

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Zara漏光和Rubbing Mura改善研究

更新时间：2020-08-12

- Zara漏光和Rubbing Mura改善研究
- Zara and Rubbing Mura Research
- 液晶与显示 2011年26卷第2期
- 作者机构：
  
  成都京东方光电科技有限公司3. 成都京东方光电科技股份有限公司
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 收稿日期：2011-08-04，
  
  修回日期：2011-11-17，
  
  网络出版日期：2012-01-19，
  
  纸质出版日期：2011-04-06
- 稿件说明：
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甘波, 魏廷存, 郑然. CMOS图像传感器芯片的自动白平衡算法[J]. 液晶与显示, 2011,26(2): 224-228

GAN Bo, WEI Ting-cun, ZHENG Ran. Auto White Balance Algorithm for CMOS Image Sensor Chip[J]. , 2011,26(2): 224-228
甘波, 魏廷存, 郑然. CMOS图像传感器芯片的自动白平衡算法[J]. 液晶与显示, 2011,26(2): 224-228 DOI：

GAN Bo, WEI Ting-cun, ZHENG Ran. Auto White Balance Algorithm for CMOS Image Sensor Chip[J]. , 2011,26(2): 224-228 DOI：

摘要

研究了摩擦(Rubbing)强度对Zara漏光和Rubbing Mura的影响。实验表明，当Rubbing强度偏低时，Zara漏光易发生，而Rubbing强度偏高时，则易引发Rubbing Mura。通过选择合适的Rubbing强度，可降低Zara漏光和Rubbing Mura的发生率。另外，利用FIB对基板表面进行分析，找到了FFS型产品容易发生Zara漏光和Rubbing Mura的原因。

Abstract

The dependence of Zara and Rubbing Mura on Rubbing intensity has been studied. The experimental result show that

when Rubbing intensity is low

Zara easily occurs

and Rubbing intensity is high

Rubbing Mura easily occurs. By selecting the right Rubbing intensity

can reduce the incidence Zara and Rubbing Mura. In addition

through use FIB to observe the surface of the substrate

we found the reason of FFS product prone to occur Zara and Rubbing Mura

关键词

Keywords

references

刘永智，杨开愚．液晶显示技术[M]．成都：电子科技大学出版社，2000：339-345[2] 王新久．液晶光学和液晶显示[M]．北京：科学出版社，2006：239-245[3] 杨国波等．ODF 工艺进展[J]．光机电信息，2011，28(1)：23-27[4] 王大巍等著，薄膜晶体管液晶显示器件的制造、测试与技术发展[M]．北京：机械出版社，2007：10-25

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