基于探针法的FED电极缺陷检测系统设计

张永爱; 张 杰; 许华安; 姚 亮; 郭太良

doi:null

您当前的位置：

首页 >

文章列表页 >

基于探针法的FED电极缺陷检测系统设计

器件制备技术及器件物理 | 更新时间：2020-08-12

- 基于探针法的FED电极缺陷检测系统设计
- Design of Defect Inspection System for FED Electrodes Based on Probe Method
- 液晶与显示 2010年25卷第2期页码：215-219
- 作者机构：
  
  福州大学场致发射显示技术教育部工程研究中心,福建福州 350002,E-mail:yongaizhang@fzu.edu.cn
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号： TP391
- 收稿日期：2009-08-19，
  
  修回日期：1900-01-02，
  
  网络出版日期：2010-04-30，
  
  纸质出版日期：2010-04-30
- 稿件说明：
移动端阅览
张永爱;张杰;许华安;姚亮;郭太良. 基于探针法的FED电极缺陷检测系统设计[J]. 液晶与显示, 2010,25(2): 215-219

ZHANG Yong-ai;ZHANG Jie;XU Hua-an;YAO Liang;GUO Tai-liang. Design of Defect Inspection System for FED Electrodes Based on Probe Method[J]. 液晶与显示, 2010,25(2): 215-219
张永爱;张杰;许华安;姚亮;郭太良. 基于探针法的FED电极缺陷检测系统设计[J]. 液晶与显示, 2010,25(2): 215-219 DOI：

ZHANG Yong-ai;ZHANG Jie;XU Hua-an;YAO Liang;GUO Tai-liang. Design of Defect Inspection System for FED Electrodes Based on Probe Method[J]. 液晶与显示, 2010,25(2): 215-219 DOI：

摘要

针对FED显示屏电极的特征

提出一种FED电极缺陷检测系统

用于检测FED电极的短路和断路等缺陷。系统分为硬件和软件两部分

硬件部分由CCD摄像头初始定位和对准模块、单片机数据测试和传输模块、计算机数据接收和处理模块组成;软件部分包括单片机预处理部分的底层程序设计和计算机部分面向对象的高级程序设计。经过硬件设计安装和软件编程调试

该FED电极缺陷检测系统已经在实验中得到应用。

Abstract

In allusion to the characteristics of the FED electrode

a kind of defect inspection system for FED electrodes is proposed in this paper

which can detect the defects of short circuit and open circuit

etc. The system includes hardware and software. The hardware is composed of CCD camera (initial location and orientation)

single-chip (data testing and transmission) and computer (data receiving and processing). The software consists of program design of single-chip pretreatment and advanced programming of computer object orientation. The defect inspection system has been applied to the fabrication of FED electrodes after the design and installation of hardware and program debugging of software.

关键词

Keywords

references

. Talin A A, Dean K A, Jaskie J E. Field emission displays: a critical review [J]. Solid-State Electronics, 2001, 45(6):963-976.

. Guo T L, Huang Z W, Wu X K, et al. Novel 20 - inch color field emission display prototype //SID00 Digest. California,USA:Society for Information Display, 2000:416 - 419.

. Guo T L, Lin Z X, Wu X K, et al. Development of 20-inch printable monochrome field emission display //ASID04, Nanjing, China: Southeast University Press, 2003:212-215.

. 林志贤, 徐胜, 郭太良. 大屏幕低逸出功印刷型VGA级FED显示系统的研制 [J]. 液晶与显示, 2008,23(1):58-62.

. Hironobu A, Hisatoshi K, Isamu M. Tiled display device utilizing PDP discharge for large area full-color flat screen //IDW99, Sendai, Japan: The Sixth International Display Workshops, 1999:1117-1118.

. 王学礼, 李根乾, 谭玉山. PCB测试技术研究进展 [J]. 无线电通信技术, 2000, 26 (5):27-30.

. Gabriel F, Dominique J, Krauth P J, et al. Automatic on-line inspection of non-smooth surface [J]. Wear, 2008, 264(5-6):416-421.

. 胡跃明, 谭颖. 自动光学检测在中国的应用现状和发展 [J]. 微计算机信息 (测控自动化), 2006, 22(2-1):143-146.

. 沈奕, 姚若河, 吴永俊. LCD电极检测技术的现状与进展 [J]. 仪表技术与传感器, 2001,(8): 1-3.

. 张剑锋, 江涛, 范玉锋. 透明电极检测系统的研制 [J]. 真空电子技术, 2003,(2):54-56.

. 沈奕, 陆霖琳, 杨烨. LCD电极检测中定位标记的图像识别 [J]. 电子技术应用, 2001,(9): 61-62.

. 凌保国, 姚若河. ITO电极图案自动检测系统的总体设计 [J]. 汕头大学学报 (自然科学版) , 2002, 17(3):37-41.

. 孟武胜, 李亮. 基于AT89C52单片机的步进电机控制系统设计 [J]. 测控技术, 2006, 25 (11):45-51.

. 何循来. 高性能八位单片机AT89C51 [J]. 半导体技术, 1997,(4):61-63.

. 原菊梅, 田生喜, 王小艺,等. 微型计算机原理及其接口技术 [M]. 北京:机械工业出版社, 2007: 298-302.

. 张有德, 赵志英, 涂时亮. 单片微型机原理、应用与实验 [M]. 上海: 复旦大学出版社, 2002:72-73.

浏览量

189

下载量

CSCD

文章被引用时，请邮件提醒。

提交

工具集

关联资源

晶圆级Micro-LED芯片检测技术研究进展

基于ε-支持向量回归机的背光源亮度均匀性评价方法

输出光强恒定的液晶自动调节系统

基于FPGA/SOPC架构的面阵CCD图像采集系统的设计

高速多通道CCD图像数据处理与传输系统设计