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退火温度对ZnO薄膜晶体管电学性能的影响
器件制备技术及器件物理 | 更新时间:2020-08-12
    • 退火温度对ZnO薄膜晶体管电学性能的影响

    • Effect of Annealing Temperature on Electrical Properties of ZnO-TFT

    • 液晶与显示   2009年24卷第4期 页码:557-561
    • 中图分类号: O472+.4
    • 收稿日期:2009-03-28

      修回日期:1900-01-02

      网络出版日期:2009-08-30

      纸质出版日期:2009-08-30

    移动端阅览

  • 张新安;张景文;张伟风;侯 洵;. 退火温度对ZnO薄膜晶体管电学性能的影响[J]. 液晶与显示, 2009,24(04): 557-561 DOI:

    ZHANG Xin-an;ZHANG Jing-wen;ZHANG Wei-feng;HOU Xun;. Effect of Annealing Temperature on Electrical Properties of ZnO-TFT[J]. 液晶与显示, 2009,24(04): 557-561 DOI:

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