大功率LED参考热阻测试系统研究与分析

王 伟; 王万良; 潘建根; 李 倩

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大功率LED参考热阻测试系统研究与分析

器件测试及评价 | 更新时间：2020-08-12

- 大功率LED参考热阻测试系统研究与分析
- Study and Analysis of Test System for Thermal Characteristic of High Power LED
- 液晶与显示 2009年24卷第2期页码：294-298
- 作者机构：
  
  1. 浙江工业大学信息学院自动化研究所,浙江杭州 310014,E-mail:wangwei211x@163.com
  2. 杭州远方光电信息有限公司,浙江杭州,310053
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号： TN305.3
- 收稿日期：2008-08-31，
  
  修回日期：2008-10-24，
  
  网络出版日期：2009-04-30，
  
  纸质出版日期：2009-04-30
- 稿件说明：
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王文文;王峥;郝维昌. 离子注入对ITO薄膜电学特性的影响[J]. 液晶与显示, 2009,24(2): 187-192

WANG Wen-wen;WANG Zheng;HAO Wei-chang. Effects of Ion Implantation on Electrical Properties of ITO Thin Film[J]. 液晶与显示, 2009,24(2): 187-192
王文文;王峥;郝维昌. 离子注入对ITO薄膜电学特性的影响[J]. 液晶与显示, 2009,24(2): 187-192 DOI：

WANG Wen-wen;WANG Zheng;HAO Wei-chang. Effects of Ion Implantation on Electrical Properties of ITO Thin Film[J]. 液晶与显示, 2009,24(2): 187-192 DOI：

摘要

介绍了利用电学测试方法测量大功率LED参考热阻的原理和方法。提出了一种新的基于电学测试的参考热阻测试方法脉冲测量法。该方法在自主研发的系统上得到应用并取得了满意的效果。研究结果表明

该方法在热阻测试方面具有可靠、稳定和精确等特点。

Abstract

The measurement principle and method based on the electrical measurement method for thermal resistance of high power LED are introduced. A new method of pulse measurement is presented for reference thermal resistance test based on the electrical measurement method. The method is applied to our system and delightful results are obtained. The experimental results show that the method has the advantages of good stability and exactitude.

关键词

Keywords

references

. Heliototis G, Stavrinous P N, Bradley D D C. Spectral conversion of InGaN ultraviolet microcavity light-emitting diodes using fluorine-based red, green-,blue- and white-light-emitting polymer overlayer films [J]. Appl. Phys. Lett.,2005,87:503-505.

. 王建,黄先,刘丽,等.温度和电流对白光LED发光效率的影响 [J]. 发光学报, 2008,29(2):358-363.

. 刘一兵,丁洁.功率型LED封装技术 [J]. 液晶与显示, 2008,23(4):508-512.

. 陈明祥,马泽涛,刘胜. LED感应局部加热封装试验研究 [J]. 发光学报, 2007,28(2):241-246.

. 冯士维,谢雪松,吕长杰,等.半导体器件热特性的电学测量与分析 [J]. 半导体学报,1999,20(5):358-364.

. International Organization for Standardization.MIL-STD-750D Notice 3 Method 3101.3 Thermal Impedance(Response)Testing of Diodes [S].2006.

. 中华人民共和国信息产业部.SJ 20788-2000半导体二极管热阻抗测试方法 [S].北京:电子工业出版社,2000.

. Electronic Industries Association Engineering Department. EIA/JESD 51-1. Integrated circuits thermal measurement method-electrical test method(single semiconductor device)[S].U.S. JEDEC,1995.

. Xi Y, Schubert E F. Junction temperature measurement in GaN ultraviolet light emitting diodes using diode forward voltage method [J]. Appl. Phys. Lett., 2004, 85(12):2163-2165.

. 张跃宗,冯士维,谢雪松,等. 半导体功率发光二极管温升和热阻的测量研究 [J]. 半导体学报 ,2006,27(2):350-353.

. 中华人民共和国国家计量技术规范. JJF1059-1999 测量不确定度评定和表示 [S].北京:中国计量出版社,2007.

. 潘建根,岳红轩,沈海平,等.分光法测量LED颜色的不确定度分析 [J]. 光电子·激光 ,2008,19(2):149-151.

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