Pose calibration of light source in Fourier ptychographic microscopy

ZHENG Chuan-jian; YANG De-long; ZHANG Shao-hui; HU Yao; HAO Qun

doi:10.37188/CJLCD.2023-0016

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Pose calibration of light source in Fourier ptychographic microscopy

Intelligent Imaging | 更新时间：2023-06-12

- Pose calibration of light source in Fourier ptychographic microscopy
- Chinese Journal of Liquid Crystals and Displays Vol. 38, Issue 6, Pages: 712-729(2023)
- 作者机构：
  
  北京理工大学光电学院，北京 100081
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  National Natural Science Foundation of China(62275020)
- DOI：10.37188/CJLCD.2023-0016
  CLC： O436.1
- Received：15 January 2023，
  
  Revised：09 February 2023，
  
  Published：05 June 2023
- 稿件说明：
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ZHENG Chuan-jian, YANG De-long, ZHANG Shao-hui, et al. Pose calibration of light source in Fourier ptychographic microscopy[J]. Chinese journal of liquid crystals and displays, 2023, 38(6): 712-729.
DOI：

ZHENG Chuan-jian, YANG De-long, ZHANG Shao-hui, et al. Pose calibration of light source in Fourier ptychographic microscopy[J]. Chinese journal of liquid crystals and displays, 2023, 38(6): 712-729. DOI： 10.37188/CJLCD.2023-0016.

摘要

傅里叶叠层显微术（Fourier Ptychographic Microscopy， FPM）通过采集不同照明角度下的一组低分辨率强度图像，并利用合成孔径与相位恢复技术拼接融合，实现了大视场和高分辨率的定量复振幅成像。精确的频谱位置是重构算法的重要先验知识，对获得高质量的重构图像至关重要。因此，校正决定图像频谱位置的照明光源位姿成为了实现鲁棒FPM系统的重要工作。近年来，多种校正照明光源位姿的方法相继被提出：采用多自由度精密机械平台校准的机械校正法、根据采集图像强度或频谱信息的数据驱动校正法及基于显微镜光学原理的成像机制校正法。本文简要介绍了FPM的基本原理和光源的位姿偏差，对3类校正方法的原理和特点进行了综述。机械校正法可以从源头上消除位姿偏差，但费时费力；数据驱动校正法能够自动校正位姿偏差，但存在校正时间长和校正参数耦合的问题；成像机制校正法不仅校正鲁棒性高，还能够从多种系统误差中分离出准确的位姿参数，是一种极具发展潜力和应用前景的校正方法。

Abstract

Fourier ptychographic microscopy （FPM） enables wide-field and high-resolution quantitative complex amplitude imaging by stitching low-resolution intensity images captured under angle-varied illuminations via synthetic aperture and phase retrieval techniques. The spectrum position of each captured image is crucial prior knowledge for reconstructing the high-quality image. Therefore， calibration of the light source pose， which determines the position of the spectrum， is a key to achieving robust FPM systems. Recently， various methods have been proposed to calibrate the misalignment of the light source， including mechanical calibration methods with multi-degree-of-freedom precision mechanical stages， data-driven calibration methods based on the intensity or spectrum information of the captured images， and imaging mechanism calibration methods based on the optical principle of microscope. This paper briefly introduces the basic principle of FPM and the pose deviation of light sources， then reviews the principles and characteristics of three calibration methods. The mechanical methods can eliminate the pose deviation essentially， but it is time-consuming and laborious. The data-driven methods can automatically calibrate the pose deviation， but long calibration time and coupling of parameters limit its application. The imaging mechanism method not only has high robustness， but also can decouple the accurate pose parameters from various systematic errors， which is a promising method with great potential for development and application.

关键词

Keywords

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