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基于改进YOLOv11的复杂背景绝缘子缺陷检测方法
更新时间：2026-11-04

    • 基于改进YOLOv11的复杂背景绝缘子缺陷检测方法

    • Insulator defect detection in complex backgrounds based on improved YOLOv11

    • 液晶与显示   2026年 页码：1-12

    • DOI：10.3724/CJLCD.2026-0196    

      中图分类号： TP394.1;TH691.9
    • CSTR：32172.14.CJLCD.2026-0196    

    • 收稿：2026-09-18，

      修回：2026-10-29，

      网络首发：2026-11-04，

    移动端阅览

  • 杨扬, 李佳燚, 王宏博, 等. 基于改进YOLOv11的复杂背景绝缘子缺陷检测方法[J/OL]. 液晶与显示, 2026,1-12. DOI： 10.3724/CJLCD.2026-0196. CSTR： 32172.14.CJLCD.2026-0196.

    YANG Yang, LI Jiayi, WANG Hongbo, et al. Insulator defect detection in complex backgrounds based on improved YOLOv11[J/OL]. Chinese Journal of Liquid Crystals and Displays, 2026, 1-12. DOI： 10.3724/CJLCD.2026-0196. CSTR： 32172.14.CJLCD.2026-0196.

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