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ICR-DETR：面向工业领域的无损检测模型
更新时间：2026-04-23

    • ICR-DETR：面向工业领域的无损检测模型

    • ICR-DETR： A lossless detection model for the industrial sector

    • 液晶与显示   2026年 页码：1-15

    • DOI：10.37188/CJLCD.2026-0024    

      中图分类号： TP394.1;TH691.9
    • CSTR：32172.14.CJLCD.2026-0024    

    • 收稿：2026-03-03，

      修回：2026-04-13，

      网络首发：2026-04-23，

    移动端阅览

  • 陈俊, 谢邦天, 梅育青, 等. ICR-DETR：面向工业领域的无损检测模型[J/OL]. 液晶与显示, 2026,1-15. DOI： 10.37188/CJLCD.2026-0024. CSTR： 32172.14.CJLCD.2026-0024.

    CHEN Jun, XIE Bangtian, MEI Yuqing, et al. ICR-DETR： A lossless detection model for the industrial sector[J/OL]. Chinese Journal of Liquid Crystals and Displays, 2026, 1-15. DOI： 10.37188/CJLCD.2026-0024. CSTR： 32172.14.CJLCD.2026-0024.

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