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用于多层结构测量的SD-OCT系统优化设计及仿真
器件物理及器件制备 | 更新时间：2026-03-02

    • 用于多层结构测量的SD-OCT系统优化设计及仿真

    • Optimized design and simulation of SD-OCT system for multilayer structure measurement

    • “介绍了其在工业检测领域的研究进展，专家优化了SD-OCT系统性能，提升了分辨率与扫描范围，为多层结构测量提供解决方案。”
    • 液晶与显示   2026年41卷第2期 页码：197-207

    • DOI：10.37188/CJLCD.2025-0232    

      中图分类号： TH74.5;O439
    • CSTR：32172.14.CJLCD.2025-0222    

    • 收稿：2025-11-14，

      修回：2026-01-10，

      纸质出版：2026-02-05

    移动端阅览

  • 周颖, 王辰, 吴晶晶, 等. 用于多层结构测量的SD-OCT系统优化设计及仿真[J]. 液晶与显示, 2026,41(2):197-207. DOI： 10.37188/CJLCD.2025-0232. CSTR： 32172.14.CJLCD.2025-0222.

    ZHOU Ying, WANG Chen, WU Jingjing, et al. Optimized design and simulation of SD-OCT system for multilayer structure measurement[J]. Chinese Journal of Liquid Crystals and Displays, 2026, 41(2): 197-207. DOI： 10.37188/CJLCD.2025-0232. CSTR： 32172.14.CJLCD.2025-0222.

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中国科学院 长春光学精密机械与物理研究所
广东松山职业技术学院 教务处
中国科学院 长春光学精密机械与物理研究所 小卫星技术国家地方 联合工程研究中心
中山大学 光电材料与技术国家重点实验室
上海交通大学 物理系,上海 200240,E-mail:seaver_li@163.com
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