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基于改进YOLOv8n的液晶屏Mura缺陷检测
器件物理及器件制备 | 更新时间：2025-03-06
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    • 基于改进YOLOv8n的液晶屏Mura缺陷检测

    • Mura defect detection of LCD screen based on improved YOLOv8n

    • “在液晶屏Mura缺陷检测领域，研究人员提出了基于改进YOLOv8n的YOLO-D3MNet模型，有效提升了检测精度，为解决Mura缺陷检测问题提供新方案。”
    • 液晶与显示   2025年40卷第3期 页码：439-447

    • DOI：10.37188/CJLCD.2024-0295    

      中图分类号： TP391
    • CSTR：32172.14.CJLCD.2024-0295    

    • 收稿日期：2024-09-24，

      修回日期：2024-10-22，

      纸质出版日期：2025-03-05

    移动端阅览

  • 陈顺龙, 廖映华, 林峰, 等. 基于改进YOLOv8n的液晶屏Mura缺陷检测[J]. 液晶与显示, 2025,40(3):439-447. DOI： 10.37188/CJLCD.2024-0295. CSTR： 32172.14.CJLCD.2024-0295.

    CHEN Shunlong, LIAO Yinghua, LIN Feng, et al. Mura defect detection of LCD screen based on improved YOLOv8n[J]. Chinese journal of liquid crystals and displays, 2025, 40(3): 439-447. DOI： 10.37188/CJLCD.2024-0295. CSTR： 32172.14.CJLCD.2024-0295.

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