基于YOLOv5的液晶屏微弱特征缺陷检测算法

林峰; 石艳; 陈顺龙; 廖映华; 赵练; 赵黎; 周泽民

doi:10.37188/CJLCD.2023-0206

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基于YOLOv5的液晶屏微弱特征缺陷检测算法

图像处理 | 更新时间：2024-06-27

- 基于YOLOv5的液晶屏微弱特征缺陷检测算法
- Weak feature defect detection method for LCD screens based on YOLOv5
- “在液晶屏显示缺陷检测领域，研究者提出了YOLO-Mura改进模型，通过引入Involution算子、CARAFE上采样算子、BiFormer注意力模块和BiFPN加权双向金字塔结构，显著提升了微弱特征缺陷的检测精度和计算效率。”
- 液晶与显示 2024年39卷第6期页码：790-800
- 作者机构：
  
  四川轻化工大学机械工程学院，四川宜宾 644000
- 作者简介：
  
  [ "林峰，男，硕士研究生，2020年于湖南涉外经济学院获得学士学位，主要从事图像处理、目标检测、机器学习等方面的研究。E-mail：1067691765@qq.com" ]
  [ "石艳，女，博士研究生，教授，2008年于四川大学获得硕士学位，主要从事过程装备优化设计理论、智能装备设计与应用技术等方面的研究。E-mail：sy71Email@163.com" ]
- 基金信息：
  
  宜宾市科技厅重点研发项目(2021GY0011);宜宾市三江新区揭榜挂帅项目(2022JBGS001);四川轻化工大学研究生创新基金(Y2022056)
- DOI：10.37188/CJLCD.2023-0206
  中图分类号： TP391.41
- 收稿日期：2023-06-06，
  
  修回日期：2023-07-02，
  
  纸质出版日期：2024-06-05
- 稿件说明：
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林峰, 石艳, 陈顺龙, 等. 基于YOLOv5的液晶屏微弱特征缺陷检测算法[J]. 液晶与显示, 2024,39(6):790-800.

LIN Feng, SHI Yan, CHEN Shunlong, et al. Weak feature defect detection method for LCD screens based on YOLOv5[J]. Chinese journal of liquid crystals and displays, 2024, 39(6): 790-800.
林峰, 石艳, 陈顺龙, 等. 基于YOLOv5的液晶屏微弱特征缺陷检测算法[J]. 液晶与显示, 2024,39(6):790-800. DOI： 10.37188/CJLCD.2023-0206.

LIN Feng, SHI Yan, CHEN Shunlong, et al. Weak feature defect detection method for LCD screens based on YOLOv5[J]. Chinese journal of liquid crystals and displays, 2024, 39(6): 790-800. DOI： 10.37188/CJLCD.2023-0206.

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