您当前的位置：
首页 >
文章列表页 >
基于YOLOv5的液晶屏微弱特征缺陷检测算法
图像处理 | 更新时间：2024-06-27
|

    • 基于YOLOv5的液晶屏微弱特征缺陷检测算法

    • Weak feature defect detection method for LCD screens based on YOLOv5

    • “在液晶屏显示缺陷检测领域，研究者提出了YOLO-Mura改进模型，通过引入Involution算子、CARAFE上采样算子、BiFormer注意力模块和BiFPN加权双向金字塔结构，显著提升了微弱特征缺陷的检测精度和计算效率。”
      ”
    • 液晶与显示   2024年39卷第6期 页码：790-800

    • DOI：10.37188/CJLCD.2023-0206    

      中图分类号： TP391.41

    • 纸质出版日期：2024-06-05，

      收稿日期：2023-06-06，

      修回日期：2023-07-02，

    扫 描 看 全 文

  • 林峰, 石艳, 陈顺龙, 等. 基于YOLOv5的液晶屏微弱特征缺陷检测算法[J]. 液晶与显示, 2024,39(6):790-800. DOI： 10.37188/CJLCD.2023-0206.

    LIN Feng, SHI Yan, CHEN Shunlong, et al. Weak feature defect detection method for LCD screens based on YOLOv5[J]. Chinese Journal of Liquid Crystals and Displays, 2024,39(6):790-800. DOI： 10.37188/CJLCD.2023-0206.

  •  
  •  

0

浏览量

10

下载量

0

CSCD

文章被引用时，请邮件提醒。
提交
工具集
下载
参考文献导出
分享
收藏
添加至我的专辑

相关文章

暂无数据

相关作者

林峰
石艳
陈顺龙
廖映华
赵练
赵黎
周泽民

相关机构

四川轻化工大学 机械工程学院
0