Algoritmo de escaneo de fusión bimodal para micropantalla OLED de silicio

LIU Xingyan ,  

JI Yuan ,  

ZHANG Yin ,  

HUANG Xinjie ,  

摘要

Para abordar los problemas de no linealidad en niveles de gris bajos, inversión de niveles de gris y falta de precisión en el control digital de micropantallas OLED basadas en silicio, este artículo propone el algoritmo de escaneo de fusión bimodal (DMFS), que divide los subcuadros en subcuadros de bits altos (HBSF) y subcuadros de bits bajos (LBSF). El HBSF emplea el modo de iluminación por línea (PE) para garantizar la eficiencia luminosa, mientras que el LBSF utiliza el modo de iluminación sincronizada (SE) para lograr un control preciso del brillo y la corrección de la linealidad. Los experimentos en una micro pantalla a todo color de 2560×2560×3@90 Hz demostraron que DMFS mejora significativamente la linealidad de los niveles de gris, redujo en 13 872 los puntos de inversión de nivel de gris, disminuyó el error cuadrático medio de brillo en un 96.63% y 99.31% para DMFS-4 y DMFS-6 respectivamente en comparación con el método de 25 subcuadros, alcanzó una precisión mínima de brillo de 0.076 cd/m² y amplió el rango efectivo del mapeo gamma hasta 253 niveles de gris. DMFS mejora efectivamente la linealidad de visualización y la precisión de los niveles de gris, mejora los detalles de la imagen y la experiencia visual humana, proporcionando una solución viable para el control digital de alta precisión en dispositivos de visualización cercanos al ojo.

关键词

Micropantalla OLED de silicio;Escaneo de fusión bimodal;Linealidad de niveles de gris;Precisión en niveles de gris bajos

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