La microscopía ptychográfica de Fourier (Fourier Ptychographic Microscopy, FPM) recopila un conjunto de imágenes de intensidad de baja resolución bajo diferentes ángulos de iluminación, y utiliza la síntesis de apertura y la recuperación de fase para fusionarlas, logrando un campo de visión amplio y una imagen cuantitativa de alta resolución. La posición precisa del espectro es un conocimiento a priori importante para el algoritmo de reconstrucción y es crucial para obtener imágenes reconstruidas de alta calidad. Por lo tanto, la corrección de la pose de la fuente de iluminación que determina la posición espectral de la imagen se convierte en un trabajo importante para lograr un sistema FPM robusto. En los últimos años, se han propuesto varios métodos de corrección de la pose de la fuente de iluminación: método de corrección mecánica utilizando una plataforma mecánica de alta precisión con múltiples grados de libertad, método de corrección impulsado por datos basado en la intensidad de las imágenes recopiladas o en la información espectral, y método de corrección basado en el mecanismo de formación de imágenes y principios ópticos del microscopio. Este artículo presenta brevemente los principios básicos de FPM y las desviaciones de la pose de la fuente, y revisa los principios y características de los tres métodos de corrección. El método de corrección mecánica puede eliminar las desviaciones desde el origen, pero es laborioso; el método impulsado por datos puede corregir automáticamente las desviaciones de la pose, pero tiene problemas de largos tiempos de corrección y acoplamiento de parámetros; el método basado en el mecanismo de formación de imágenes no solo tiene una alta robustez en la corrección, sino que también puede separar con precisión los parámetros de pose de varios errores sistémicos, siendo un método con gran potencial de desarrollo y aplicación.

Microscopía ptychográfica de Fourier;imágenes ópticas computacionales;recuperación de fase;corrección de pose