En la medición del espectro Raman, la cobertura superficial de la microestructura nanoestructurada de los sustratos de dispersión Raman con mejora superficial (SERS) afecta gravemente a la consistencia espectral. Por ello, este artículo se centra en estudiar la relación entre la cobertura superficial y el espectro, y propone un método para eliminar el efecto de la cobertura superficial. Primero, se preparó un sustrato SERS utilizando un molde blando de cristal líquido disuelto y se analizó la relación entre la cobertura superficial y la intensidad del espectro Raman, obteniendo una fórmula empírica. Luego, basándose en dicha fórmula, se tomó como cobertura de referencia la cobertura superficial correspondiente a la intensidad media del espectro medido, y todas las intensidades del espectro medido se agruparon bajo esta cobertura de referencia para eliminar así el efecto de la cobertura superficial en la intensidad del espectro. Finalmente, se verificó la efectividad de este método en diferentes sustratos SERS y bajo diferentes tamaños de manchas de medición en el mismo sustrato. Los resultados del ajuste y los experimentos muestran que la intensidad del espectro Raman y la cobertura superficial presentan una relación exponencial; el método de cobertura superficial puede reducir el coeficiente de variación del espectro Raman en diferentes sustratos a aproximadamente un 6 %, mejorar la consistencia del sustrato bajo diferentes tamaños de manchas de medición en más de 2 veces, y el coeficiente de variación espectral del sustrato disminuye linealmente con el aumento del tamaño de la mancha. En resumen, el método de cobertura superficial puede mejorar significativamente la consistencia del espectro Raman de los sustratos SERS, permitiendo una detección cuantitativa y confiable de los componentes de diversas sustancias, promoviendo en gran medida la aplicación de los sustratos SERS en múltiples campos de detección.

dispersión Raman mejorada en superficie;cristal líquido disuelto;espectro Raman;cobertura superficial;consistencia espectral