Проводящий слой и ориентирующий слой являются наиболее распространёнными и важными слоями пленки в жидкокристаллических устройствах. Два слоя расположены между подложкой и жидким кристаллом и из-за несоответствия показателей преломления приводят к снижению пропускания пленки, что уменьшает эффективность использования световой энергии в жидкокристаллических устройствах. Для решения этой проблемы в данной статье предлагается метод проектирования многослойных антиотражающих пленок на основе проводящего и ориентирующего слоев, рассматривающих эти слои как часть пленочной системы для достижения высокой пропускной способности. Во-первых, создана физическая модель многослойной антиотражающей пленки на основе проводящего и ориентирующего слоев; затем на основе этой модели теоретически разработана соответствующая структура пленок для достижения высокой пропускной способности; наконец, систематически изучено влияние процесса подачи напряжения на жидкий кристалл на пропускание пленок. Результаты показывают, что разработанная антиотражающая пленка сохраняет пропускание выше 99% в диапазоне 500~800 нм и выше 96% в диапазоне 400~500 нм; подача напряжения на жидкий кристалл приводит к снижению пропускания пленок, но при проектировании с учётом смешанного показателя преломления жидкого кристалла снижение пропускания можно ограничить менее чем 0,35%. Данное исследование способствует созданию жидкокристаллических устройств с высоким уровнем использования энергии и высокой стабильностью.

проводящий слой;ориентирующий слой;антиотражающая пленка