Решетка Либ — одна из полноценных решеточных структур с плоскими полосами, которая широко изучается. В данной работе на основе технологии светового управления ориентацией жидких кристаллов была изготовлена решетка Либ. Путём изменения направления поляризации облучения была построена структура решетки Либ с жидкими кристаллами, ориентированными под углом 90° (TN) внутри узлов решетки и однородной ориентацией (PA) вне узоров. Были измерены дифракционные характеристики жидкокристаллической решетки Либ при воздействии внешнего электрического поля и различных схемах инцидентного света. Поляризационные характеристики нескольких дифракционных порядков при разных приложенных напряжениях были исследованы с помощью поляриметра. Экспериментальные результаты показали, что при приложении напряжения увеличивается количество дифракционных пятен в дифракционной картине; с ростом напряжения до примерно 2,5 В_PP дифракция в структуре решетки Либ ухудшается, и за исключением нулевого порядка интенсивность пятен всех дифракционных порядков достигает минимального значения; при увеличении напряжения до 4 В_PP интенсивность дифракционных пятен постепенно увеличивается, и дифракционная картина становится более чёткой. При изменении напряжения поляризационные состояния дифракционных лучей разных порядков при различных условиях освещения также постепенно меняются: для первого порядка дифракции в интервале 1–3 В_PP наблюдаются особые состояния поляризации, включая линейную поляризацию +45°, линейную поляризацию -45°, право- и левовращающую круговую поляризацию. Предложенная жидкокристаллическая решетка Либ обладает такими характеристиками, как лёгкость регулировки и простота изготовления; посредством управления напряжением, приложенным к жидким кристаллам, возможно динамическое управление поляризационными состояниями дифракционных порядков, что предоставляет новый способ управления световым полем.

Жидкокристаллическая решетка Либ; световое управление ориентацией; внешнее электрическое поле; поляризация; дифракционная картина