Для удовлетворения требований высокоточного поляризационного детектирования при проектировании канального поляризационного спектрометра необходимо учитывать влияние поляризационных эффектов телескопической системы, а также проводить их соответствующий анализ и оптимизацию. Во-первых, анализируются факторы, влияющие на поляризационные эффекты телескопической группы, с использованием преобразований координат и последовательного умножения матриц Мюллера создается модель матрицы Мюллера телескопической группы с учетом поляризационных эффектов пленочного покрытия, которая вводится в модель поляризационной демодуляции канального поляризационного спектрометра. Затем путем одновременного контроля пропускания и фазовой задержки S- и P-полюсированных лучей проектируется соответствующая система покрытий с низким поляризационным эффектом. Наконец, методом трассировки поляризованных лучей моделируется поляризационный эффект телескопической группы с различными покрывающими слоями. Результаты моделирования показывают, что при длинах волн 580 нм и 750 нм изменения в точности поляризационного детектирования между системами покрытий с низким и высоким поляризационным эффектом незначительны. Однако при длине волны 420 нм точность поляризационного детектирования в краевой области поля зрения у системы с низким поляризационным эффектом повысилась на 3,22% по сравнению с обычными покрытиями. Системы покрытий с низким поляризационным эффектом эффективно снижают поляризационные эффекты телескопической группы канального поляризационного спектрометра, улучшая точность поляризационного детектирования прибора.

поляризационная спектральная камера;поляризационный эффект;вектор Стокса;матрица Мюллера