Полимерные пленки обычно имеют микроструктуры, такие как кристаллизация и фазовое разделение, а также в процессе изготовления и обработки образуются поверхностные дефекты, пузыри и другие неоднородные структуры, что серьезно влияет на их свойства. Однако на данный момент нет хороших методов для характеристики этих структур. В данной статье исследуется применение цифровой голографической микроскопии (Digital Holographic Microscopy, DHM) — оптической трехмерной микроскопической технологии in situ, без повреждений и с высокой точностью — для характеристики поверхности и внутренней структуры полимерных пленок и дефектов. С помощью самодельного DHM и алгоритма непрерывного трехмерного позиционирования были охарактеризованы распределение полистирольных наночастиц размером 100 нм в жидкослойном слое, морфология поверхности после покрытия полиуретаном на пластине, процесс фазового разделения пленки полиметилметакрилата и воды, краевая кристаллизация при сушке пленки полиэтиленгликоля и микронанопузыри внутри полиэтиленгликолевой пленки, что доказывает высокое разрешение DHM и его возможность одновременного высокоточного in situ трехмерного мониторинга дефектов и структур на поверхности и внутри полимерных пленок, обладающего уникальными преимуществами и перспективами применения.

полимерные пленки;цифровая голография;трехмерное изображение