В измерениях рамановской спектроскопии поверхностное покрытие микронано-структурной поверхности подложки с усилением поверхностного рамановского рассеяния (SERS) существенно влияет на согласованность спектров. В данной работе основное внимание уделяется изучению закона влияния покрытия поверхности на спектр и предложен метод устранения влияния покрытия поверхности. Сначала была подготовлена SERS-подложка с использованием мягкого шаблона растворенного жидкого кристалла и проанализирована взаимосвязь между покрытием поверхности и интенсивностью рамановского спектра, на основе чего была получена эмпирическая формула. Затем, используя указанную формулу, среднее значение интенсивности измеренного спектра и соответствующее покрытие поверхности взяты в качестве эталонного покрытия, все измеренные интенсивности спектров нормализованы к этому эталону, что позволило устранить влияние покрытия поверхности на интенсивность спектра. В итоге была проверена эффективность данного метода для разных SERS-подложек и для разных размеров измерительных пятен на одной подложке. Результаты подгонки и экспериментов показывают, что интенсивность рамановского спектра и покрытие поверхности имеют экспоненциальную зависимость; метод покрытия поверхности может снизить коэффициент вариации рамановских спектров разных подложек примерно до 6%, повысить согласованность подложек при различных размерах измерительных пятен более чем в 2 раза, а коэффициент вариации спектров подложек линейно уменьшается с увеличением размера пятна. В целом, метод покрытия поверхности значительно повышает согласованность рамановских спектров SERS-подложек, что позволяет количественно и надежно определять различные компоненты веществ и значительно способствует применению SERS-подложек в различных областях детекции.

усиленное поверхностное рамановское рассеяние;растворенный жидкий кристалл;рамановский спектр;покрытие поверхности;согласованность спектра