摘要
Использование гиперспектрального SPRi-датчика для проведения SPR-микроскопической съемки полистирольных микросфер и обработка высокоспектральных SPR-изображений, полученных при различных условиях поляризации, эффективно ослабила контраст собственных пятен на гиперспектральных SPR-изображениях, что сделало расположение и контуры образцов полистирольных микросфер более четкими. Обработанный спектр SPR одиночного пикселя стал более гладким, уменьшая влияние характеристик спектра источника света и случайного шума на извлечение информации о резонансе SPR. Сравнение SPR-изображений полистирольных микросфер с отражательными изображениями в светлом поле выявило явные различия, главным образом из-за ограничения глубины проникновения исчезающего поля. Результаты показали, что по сравнению с отражательными изображениями в светлом поле, SPR-изображения могут явно отражать контакт частиц с металлической поверхностью внутри исчезающего поля, но не могут количественно оценить истинный размер объектов за пределами глубины проникновения исчезающего поля.
关键词
SPR-микроскопия;спектральная визуализация;полистирольные микросферы;обработка изображений
以上内容由讯飞翻译自动生成，翻译内容仅供参考。对于因使用本网站翻译内容产生的相关后果，本网站不承担任何商业和法律责任。
The above content is generated by Large Model Translation. The translated content is for reference only. We do not assume any commercial or legal responsibilty for any consequences arising from the use of our website