Para alcançar medições tridimensionais de alta precisão de pequenos objetos, este artigo construiu um sistema de medição morfológica 3D baseado em iluminação por luz estruturada, e estudou os algoritmos de codificação de fase, calibração de câmera telecêntrica e calibração de projetor usados no sistema. Primeiro, por meio de um algoritmo de extração de bordas, foram obtidas as coordenadas dos pontos característicos do alvo plano bidimensional, utilizou-se o algoritmo de calibração Zhang melhorado para concluir a calibração da câmera telecêntrica, e a relação de mapeamento entre os pixels da câmera e os pixels do projetor foi obtida por meio da luz estruturada codificada por fase. Em seguida, pela relação de mapeamento, o projetor também pôde capturar as informações de posição dos pontos característicos, completando assim sua calibração. Por fim, foi realizada a reconstrução 3D do objeto medido com base em um modelo de visão estereoscópica. Os resultados experimentais mostraram que o campo de visão do sistema calibrado é maior que 2000 mm², a precisão da medição em todo o campo é de aproximadamente 32 μm, e a precisão da medição no centro do campo é de 10 μm. O sistema possui boa estabilidade e repetibilidade, pode atender às demandas da maioria das aplicações industriais de inspeção e demonstra um amplo potencial de aplicação.

luz estruturada;medição 3D;objetiva telecêntrica;alta precisão