Projeto e aplicação de amostras eletrônicas limite para defeito de Particle Gap em painéis de cristal líquido

SUO Jin-liang ,  

ZHU Zhong-fa ,  

WANG Bin ,  

FAN Cheng ,  

ZHANG Jun ,  

HUANG Zhu-bing ,  

摘要

O defeito de brecha de partículas (Particle Gap) é um dos defeitos comuns em painéis de cristal líquido, sendo necessário avaliar com precisão o nível de gravidade do defeito na produção industrial. Os métodos tradicionais de avaliação apresentam baixa precisão e grandes margens de erro. Este artigo, com base nas características morfológicas e de cor do defeito Particle Gap, utilizou o software Photo Shop para projetar amostras eletrônicas limite de Particle Gap, aumentando a precisão da avaliação do nível de defeito. Primeiro, os defeitos foram divididos em quatro tipos de acordo com a forma; a análise da cor mostrou que os defeitos circulares com núcleo e sem núcleo apresentam cores isotrópicas, subdivididas do centro para a borda em gradientes uniformes e não uniformes; em seguida, foi criado um modelo de amostra eletrônica limite de Particle Gap, e, por meio de experimentos comparativos, identificaram-se amostras eletrônicas limite precisas entre diferentes níveis; finalmente, analisou-se que a faixa de cor do Particle Gap é matiz H∈[30°, 45°], saturação S∈[2%, 56%], brilho B∈[15%, 66%]. À medida que o defeito se agrava, o matiz diminui em geral, a saturação aumenta gradualmente e o brilho primeiro aumenta e depois diminui, fornecendo uma referência para a fabricação e revisão de amostras eletrônicas limite. Após a aplicação dessa amostra limite no processo de inspeção de painéis da empresa H, a precisão da classificação do Particle Gap aumentou mais de 7,1%, e as perdas de produtos e materiais causadas por inspeções incorretas foram significativamente reduzidas, tendo grande valor aplicado na área de detecção de defeitos.

关键词

Defeito Particle Gap; amostras limite; valores de cor HSB; precisão de detecção

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