Na medição do espectro Raman, a cobertura superficial da estrutura micro e nano da superfície do substrato de espalhamento Raman com reforço superficial (SERS) afeta gravemente a consistência espectral. Para isso, este artigo foca no estudo da regra de influência da cobertura superficial sobre o espectro e apresenta um método para eliminar o efeito da cobertura superficial. Primeiro, utilizou-se um molde macio de cristal líquido solúvel para preparar o substrato SERS e analisar a relação entre a cobertura superficial e a intensidade do espectro Raman, obtendo uma fórmula empírica. Em seguida, com base nessa fórmula, a cobertura superficial correspondente à intensidade média do espectro medido foi usada como cobertura de referência, reunindo todas as intensidades dos espectros medidos sob essa cobertura de referência, eliminando assim a influência da cobertura superficial na intensidade do espectro. Por fim, foi verificada a eficácia do método em diferentes substratos SERS e sob diferentes tamanhos de ponto de medição no mesmo substrato. Os resultados do ajuste e experimentais indicam que a intensidade do espectro Raman e a cobertura superficial possuem uma relação exponencial; o método da cobertura superficial pode reduzir o coeficiente de variação dos espectros Raman em diferentes substratos para cerca de 6%, melhorar a consistência dos substratos sob diferentes tamanhos de ponto de medição em mais de 2 vezes, e o coeficiente de variação espectral dos substratos diminui linearmente com o aumento do tamanho do ponto. Em resumo, o método da cobertura superficial pode melhorar significativamente a consistência do espectro Raman dos substratos SERS, permitindo a detecção quantitativa e confiável dos componentes de várias substâncias, impulsionando grandemente a aplicação dos substratos SERS em múltiplos campos de detecção.

espalhamento Raman com reforço superficial;cristal líquido solúvel;espectro Raman;cobertura superficial;consistência espectral