Para melhorar o valor crítico máximo da força de vazamento de luz por pressão no painel de cristal líquido e a capacidade de resistência à pressão, foi realizada uma análise do mecanismo de vazamento de luz por pressão no painel LCD, combinada com a produção real da empresa, utilizando o planejamento experimental (DOE) para selecionar os principais fatores. Os resultados do DOE mostraram que os principais fatores para o vazamento de luz por pressão são o tamanho do espaçador em coluna (Photo spacer, PS), a largura da matriz preta (Black Matrix, BM), a posição do PS e a espessura da camada de planarização (PLN). Durante o processo de produção real, foram realizados experimentos de melhoria no design para o vazamento de luz por pressão. Os resultados mostraram que aumentar o tamanho do PS pode aumentar efetivamente a resistência à pressão do painel em 32,69%, e que após o aumento do tamanho, a taxa de recuperação elástica aumentou 4,4%, podendo efetivamente reduzir a ocorrência de vazamento de luz por pressão; o design que aumentou a largura do BM em 3 μm elevou o valor crítico médio do vazamento de luz por pressão em 30,61%; mudar a posição do PS para um design centralizado geral aumentou o valor crítico médio da força do vazamento de luz por pressão em 33,33% em comparação com o design deslocado para cima à direita; a redução da espessura do PLN em 0,6 μm pode aumentar efetivamente o valor crítico do vazamento de luz por pressão em 27,08%.

Painel de cristal líquido;Vazamento de luz por pressão;Espaçador;Planejamento experimental