액정 디스플레이 화면의 표면 결함 검사는 TFT-LCD 등 액정 디스플레이의 품질 안정성을 보장하는 데 핵심적인 역할을 합니다. 표면 결함 검출에 있어 높은 효율성과 저비용의 장점 덕분에 머신 비전 기술은 현재 TFT-LCD 품질 검사 주요 수단이 되었습니다. 본 논문에서는 먼저 액정 화면의 발전 과정을 개괄하고, 흔한 Mura 결함 유형을 열거한 뒤, 전통적 영상 처리 기반 및 딥러닝 기반 Mura 결함 검출 방법을 각각 소개하며, 영상 필터링 및 영상 밝기 보정 등의 영상 전처리 기술 연구 동향을 요약합니다. 또한 본 논문은 감독 학습, 비지도 학습, 전이 학습 등 인공지능 기술이 TFT-LCD 표면 Mura 결함 검출 분야에 적용된 내용을 중점적으로 설명하고, 머신 비전 기반 TFT-LCD 표면 Mura 결함 검출 기술 발전 동향을 전망합니다.

TFT-LCD; Mura 결함; 머신 비전; 영상 처리; 딥러닝